| Aparat: |
Aparat do badania odporności powłok na zarysowanie |
| Typ/model: |
Lineartester 249 |
| Producent: |
Erichsen |
| Rok produkcji: |
2010 |
| Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: |
Mikroskop Motic SMZ-143 z kamerą cyfrową oraz laptop z programem do wyznaczania odporności na zarysowanie |
| Zastosowanie: |
Wyznaczanie twardości powłok na różnych powierzchniach, wyznaczanie odporności powłok na zarysowanie |
| Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: |
|
| Nazwa instytucji: |
Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów |
| Adres: |
90- 965 Poznań, Pl. M.Skłodowskiej-Curie 2 |
| Kontakt: |
prof. dr hab.inż. Ewa Andrzejewska; tel. 61 665 36 37; Ewa.Andrzejewska@put.poznan.pl |
| Słowa kluczowe: |
odporność powłok na zarysowanie |