BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Dyfraktometry rentgenowskie


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Dyfraktometr rentgenowski TUR M 62 Carl Zeiss AG bd. Promieniowanie rentgenowskie Cu Kα, zakres pomiarowy 2-80 °(2θ) Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów
Dyfraktometr rentgenowski bd. Aparat wyposażony w układ Molecular Dynamics Model 375 oraz detektor z matrycą CCD Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów
Dyfraktometr rentgenowski URD-6 /IRYS-M bd. Napięcie na lampie – 40 kV; natężenie prądu anodowego – 30 mA; filtracja 1 mmAl Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Gnieźnie, Instytut Ochrony Środowiska
Szerokokątowy dyfraktometr rentgenowski Seifert URD-6 Seifert FPM 1998 Pracuje w geometrii Bragg-Brentan. Składa się z następujących podzespołów: 1. goniometr typu URD-6 Seifert Freiberger Präzisionsmechanik z układem optycznym i licznikiem scyntylacyjnym; 2. wysoko-stabilny generator wysokiego napięcia ID 3003 firmy Seifert; 3. źródło promieniowania rentgenowskiego w postaci lampy rentgenowskiej z miedzianą anodą o mocy 2 kW; 4. układ chłodzenia wodnego KUMA Diffraction KMW 3000 C; 5. specjalna przystawka umożliwiająca badanie cienkich warstw (grazing incidence X-ray diffraction). Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych
Dyfraktometry SWAXS i SAXS Mbraun/Mbraun-Hecus bd. Dyfraktometry SWAXS (Small and Wide Angle X-ray Scattering system) i SAXS (Small Angle X-ray Scattering system) współtworzą wspólne stanowisko badawcze składające się z: dwóch zespolonych kamer Kratky’ego wyposażonych w systemy optyczne SWAXS i SAXS, generatora wysokiego napięcia PW1830 (Philips), lampy rentgenowskiej o mocy 2 kW, układu chłodzenia wodnego KMW3000B, układu próżniowego , dwóch oddzielnych układów zasilania liczników natężenia promieniowania i dwóch oddzielnych układów komputerowych sterowania i rejestracji danych pomiarowych. Dyfraktometry wyposażone są w czułe liczniki, semi-transparentne i sterowane elektroniczne przesłony wiązki pierwotnej i specjalistyczne urządzenie do pomiaru natężenia wiązki pierwotnej metodą ruchomej szczeliny (tzw. moving slit). Dyfraktometr SWAXS wyposażony jest w stolik do badań w zakresie od 20 do 270÷300 °C i własnej konstrukcji układ do pomiaru temperatury bezpośrednio w uchwycie próbki Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych
Dyfraktometr rentgenowski Discover D8, DaVinci Bruker 2012 Dyfraktometr z goniometrem pionowym w konfiguracji theta/theta, optyka do badań w geometrii transmisyjnej i odbiciowej, zestaw szczelin, kolimatorów oraz uchwytów do badań również w zakresie SAXS oraz mikrodyfrakcji, szybki detektor liniowy i powierzchniowy, komora temperaturowa od -100 °C do +300 °C Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk
Dyfraktometr rentgenowski KUMA KM-4 1996 Czterokołowy dyfraktometr rentgenowski z licznikiem scyntylacyjnym. Wyposażony w przystawkę wysokotemperaturową umożliwiającą pomiary w zakresie 300 - 800 K Uniwersytet Opolski, Wydział Chemii, Zakład Krystalografii
Dyfraktometr rentgenowski Xcalibur Oxford 2001 Czterokołowy dyfraktometr rentgenowski wyposażony w kamerę CCD. Umożliwia znaczne przyspieszenie procesu pomiarowego w porównaniu do tych wykonywanych za pomocą licznika scyntylacyjnego, posiada zwiększoną czułość oraz umożliwia obserwacje obszaru dyfrakcyjnego pomiędzy węzłami sieci odwrotnej. Wyposażony w przystawkę niskotemperaturową umożliwiającą pomiary w zakresie 80 - 370 K Uniwersytet Opolski, Wydział Chemii, Zakład Krystalografii
Dyfraktometr rentgenowski Ultima IV Rigaku bd. Lampa rtg Cu o mocy 2 kW; generator: 20-60 kV, 2-60 mA; goniometr: geometria: θs/θd, promień: 285 mm, zakres kątowy 2θ: –3 ÷162°, minimalna wartość kroku pomiarowego: 0,0001°, szybkość skanowania regulowana w zakresie od 0,02 do 100°/min (2θ); licznik scyntylacyjny NaI(Tl) o liniowej charakterystyce w zakresie 0÷700 000 cps; system optyczny: CBO (optyka promienia krzyżowego), optyka z wiązką ogniskującą (Bragg-Brentano) filtr Ni, geometria wiązki równoległej (Parallel Beam) CBO-f (optyka promienia krzyżowego z układem mikroogniskującym), średnica wiązki 0,4mm. Szczeliny: DS w zakresie 0,01 do 7,00 mm, SS i RS: 0,01 do 20 mm; monochromator uniwersalny przystosowany do pracy z wiązką równoległą i geometrią ogniskującą Bragga-Brentano. Układ pomiarowy SAXS z zestawem szczelin; oprogramowanie XRD do określania jakościowego składu fazowego badanych układów; oprogramowanie SAXS obejmujące korekcję zniekształceń kolimacyjnych, określanie wielkości cząstek i wielkości porów. Baza danych ICDD. Komora temperaturowa: Anton Paar TTK 450, zakres temperaturowy: od 20 °C do 450 °C Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Dyfraktometr proszkowy Mini Flex Rigaku 1998 Anoda Cu, zakres pomiarowy 2q od 2 do 150°, geometria Bragg – Brentano q/2q, licznik scyntylacyjny Instytut Farmaceutyczny, Zakład Analityki Badawczej
Dyfraktometr rentgenowski Empyrean Series 2 Panalytical bd. Wysokorozdzielczy goniometr, wyposażony w układ optyczny PreFIX wiązki padającej i ugiętej w systemie. Do detekcji promieniowania ugiętego służą dwa detektory: proporcjonalny - ksenonowy oraz detektor PIXcel - paskowy krzemowy. Urządzenie jest wyposażone w sześć przystawek montowanych w systemie PreFIX do różnorodnej analizy próbek – litych oraz proszkowych
Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania