Aparat |
Typ/model |
Producent |
Rok produkcji |
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe |
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm |
Nazwa instytucji |
Dyfraktometr rentgenowski |
TUR M 62 |
Carl Zeiss AG |
bd. |
Promieniowanie rentgenowskie Cu Kα, zakres pomiarowy 2-80 °(2θ) |
|
Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów |
Dyfraktometr rentgenowski |
|
|
bd. |
Aparat wyposażony w układ Molecular Dynamics Model 375 oraz detektor z matrycą CCD |
|
Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów |
Dyfraktometr rentgenowski |
URD-6 /IRYS-M |
|
bd. |
Napięcie na lampie – 40 kV; natężenie prądu anodowego – 30 mA; filtracja 1 mmAl |
|
Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Gnieźnie, Instytut Ochrony Środowiska |
Szerokokątowy dyfraktometr rentgenowski |
Seifert URD-6 |
Seifert FPM |
1998 |
Pracuje w geometrii Bragg-Brentan. Składa się z następujących podzespołów: 1. goniometr typu URD-6 Seifert Freiberger Präzisionsmechanik z układem optycznym i licznikiem scyntylacyjnym; 2. wysoko-stabilny generator wysokiego napięcia ID 3003 firmy Seifert; 3. źródło promieniowania rentgenowskiego w postaci lampy rentgenowskiej z miedzianą anodą o mocy 2 kW; 4. układ chłodzenia wodnego KUMA Diffraction KMW 3000 C; 5. specjalna przystawka umożliwiająca badanie cienkich warstw (grazing incidence X-ray diffraction). |
|
Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych |
Dyfraktometry SWAXS i SAXS |
|
Mbraun/Mbraun-Hecus |
bd. |
Dyfraktometry SWAXS (Small and Wide Angle X-ray Scattering system) i SAXS (Small Angle X-ray Scattering system) współtworzą wspólne stanowisko badawcze składające się z: dwóch zespolonych kamer Kratky’ego wyposażonych w systemy optyczne SWAXS i SAXS, generatora wysokiego napięcia PW1830 (Philips), lampy rentgenowskiej o mocy 2 kW, układu chłodzenia wodnego KMW3000B, układu próżniowego , dwóch oddzielnych układów zasilania liczników natężenia promieniowania i dwóch oddzielnych układów komputerowych sterowania i rejestracji danych pomiarowych. Dyfraktometry wyposażone są w czułe liczniki, semi-transparentne i sterowane elektroniczne przesłony wiązki pierwotnej i specjalistyczne urządzenie do pomiaru natężenia wiązki pierwotnej metodą ruchomej szczeliny (tzw. moving slit). Dyfraktometr SWAXS wyposażony jest w stolik do badań w zakresie od 20 do 270÷300 °C i własnej konstrukcji układ do pomiaru temperatury bezpośrednio w uchwycie próbki |
|
Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych |
Dyfraktometr rentgenowski |
Discover D8, DaVinci |
Bruker |
2012 |
Dyfraktometr z goniometrem pionowym w konfiguracji theta/theta, optyka do badań w geometrii transmisyjnej i odbiciowej, zestaw szczelin, kolimatorów oraz uchwytów do badań również w zakresie SAXS oraz mikrodyfrakcji, szybki detektor liniowy i powierzchniowy, komora temperaturowa od -100 °C do +300 °C |
|
Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk |
Dyfraktometr rentgenowski KUMA KM-4 |
|
|
1996 |
Czterokołowy dyfraktometr rentgenowski z licznikiem scyntylacyjnym. Wyposażony w przystawkę wysokotemperaturową umożliwiającą pomiary w zakresie 300 - 800 K |
|
Uniwersytet Opolski, Wydział Chemii, Zakład Krystalografii |
Dyfraktometr rentgenowski |
Xcalibur |
Oxford |
2001 |
Czterokołowy dyfraktometr rentgenowski wyposażony w kamerę CCD. Umożliwia znaczne przyspieszenie procesu pomiarowego w porównaniu do tych wykonywanych za pomocą licznika scyntylacyjnego, posiada zwiększoną czułość oraz umożliwia obserwacje obszaru dyfrakcyjnego pomiędzy węzłami sieci odwrotnej. Wyposażony w przystawkę niskotemperaturową umożliwiającą pomiary w zakresie 80 - 370 K |
|
Uniwersytet Opolski, Wydział Chemii, Zakład Krystalografii |
Dyfraktometr rentgenowski |
Ultima IV |
Rigaku |
bd. |
Lampa rtg Cu o mocy 2 kW; generator: 20-60 kV, 2-60 mA; goniometr: geometria: θs/θd, promień: 285 mm, zakres kątowy 2θ: –3 ÷162°, minimalna wartość kroku pomiarowego: 0,0001°, szybkość skanowania regulowana w zakresie od 0,02 do 100°/min (2θ); licznik scyntylacyjny NaI(Tl) o liniowej charakterystyce w zakresie 0÷700 000 cps; system optyczny: CBO (optyka promienia krzyżowego), optyka z wiązką ogniskującą (Bragg-Brentano) filtr Ni, geometria wiązki równoległej (Parallel Beam) CBO-f (optyka promienia krzyżowego z układem mikroogniskującym), średnica wiązki 0,4mm. Szczeliny: DS w zakresie 0,01 do 7,00 mm, SS i RS: 0,01 do 20 mm; monochromator uniwersalny przystosowany do pracy z wiązką równoległą i geometrią ogniskującą Bragga-Brentano. Układ pomiarowy SAXS z zestawem szczelin; oprogramowanie XRD do określania jakościowego składu fazowego badanych układów; oprogramowanie SAXS obejmujące korekcję zniekształceń kolimacyjnych, określanie wielkości cząstek i wielkości porów. Baza danych ICDD. Komora temperaturowa: Anton Paar TTK 450, zakres temperaturowy: od 20 °C do 450 °C |
|
Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów |
Dyfraktometr proszkowy |
Mini Flex |
Rigaku |
1998 |
Anoda Cu, zakres pomiarowy 2q od 2 do 150°, geometria Bragg – Brentano q/2q, licznik scyntylacyjny |
|
Instytut Farmaceutyczny, Zakład Analityki Badawczej |
Dyfraktometr rentgenowski |
Empyrean Series 2 |
Panalytical |
bd. |
Wysokorozdzielczy goniometr,
wyposażony w układ optyczny PreFIX wiązki padającej i ugiętej w systemie. Do
detekcji promieniowania ugiętego służą dwa detektory: proporcjonalny -
ksenonowy oraz detektor PIXcel - paskowy krzemowy. Urządzenie jest wyposażone w
sześć przystawek montowanych w systemie PreFIX do różnorodnej analizy próbek –
litych oraz proszkowych
|
|
Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania |
Dyfraktometr proszkowy małokątowy typu SAXS pracujący z lampą miedziową (promieniowanie o długości 1.54 A) pracujący w geometrii transmisyjnej |
|
Bruker AXS Gmbh |
2013 |
Optyka
przyrządu (skrzyżowane lustra Goebla) pozwala na otrzymanie wiązki równoległej
o średnicy 500 mikronów. Aparat wyposażony jest w detektor dwuwymiarowy, co
pozwala na szybką rejestrację sygnałów. Przystawka temperaturowa pozwala na
pracę w zakresie od temperatury pokojowej do 350 °C, istnieje możliwość
wykonywania pomiarów w osłonie gazów obojętnych. Aparat posiada również
przystawkę tensometryczną. |
|
Politechnika Rzeszowska, Wydział Chemiczny, Wydziałowe Laboratorium Spektrometrii |