BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Mikroskopy Sił Atomowych

Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Mikroskop Sił Atomowych Metrology series 2000 Molecular imaging, USA 2000 Pracujący w trybach: kontaktowym lub oscylacyjnym; głowica pomiarowa wyposażona w dźwignię krzemową CSC37 (Mikro Mash, Estonia) Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Mikroskop Sił Atomowych MultiMode/NanoScope 3D Veeco 2007 Celka do badań w cieczy, możliwość pomiarów w temperaturze do 60 oC. Skaner 10 µm. Maksymalny rozmiar próbki: średnica 15 mm lub powierzchnia 10 mm x 10 mm, maksymalna grubość próbki z podłożem: 7 mm, maksymalna chropowatość badanej powierzchni próbki: 3.5 µm Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Mikroskop Sił Atomowych AFM INNOVA Vesco 2010 Rozmiar próbki (XYZ): 45 mm x 45 mm x 18 mm; zmotoryzowany ruch głowicy w osi Z (18 mm), z możliwością przechyłu; skaner Closed Loop: > 90 um (XY), > 7,5 um (Z); skaner Open Loop: > 5 um (XY), > 1,5 um (Z); dopuszczalny szum w osi Z (RMS): < 50 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop Z (RMS): < 200 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop XY (RMS): < 1.2 nm; zmotoryzowany zoom optyczny 5x; rozdzielczość układu optycznego: < 2um (obiektyw 10 x), 0,75 um (obiektyw 50 x); tryby pracy - standardowe: ContactMode, TappingMode(TM), PhaseImaging(TM), LiftMode(TM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Dark Lift, Lateral Force Microscopy (LFM), Nano-Indentation, Force Modulation Microscopy (FMM), Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM) Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów