BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Skaningowe mikroskopy elektronowe


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Skaningowy mikroskop elektronowy JSM-6490 LV Jeol bd. Wyposażony w mikroanalizator EDS i lampę rentgenowską Badania akredytowane struktury i morfologii powierzchni Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Skaningowy mikroskop elektronowy TM 3000 Hitachi 2010 Stolikowy skaningowy mikroskop elektronowy SEM typu „table-top”, napięcie wiązki 5,15 keV, powiększenia do 30 000x, rozdzielczość ok. 30 nm Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Zakład Materiałów Ceramicznych i Polimerowych
Skaningowy mikroskop elektronowy z mikroanalizerem Thermo Fisher SU 70 Hitachi bd. Rozdzielczość maks. 1 nm, analiza EDS, WDS, EBSD, analiza struktury materiałów polimerowych nieprzewodzących (po napyleniu) Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny, Instytut Polimerów
Skaningowy mikroskop elektronowy Quanta 200 FEI Company 2004 Rozdzielczość 3,5 nm. Tryb pracy: wysoka i niska próżnia oraz ESEM. Dodatkowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych Instytut Biopolimerów i Włókien Chemicznych (IBWCh)
Skaningowy mikroskop elektronowy SU 8010 Hitachi 2011 Przystawka EDX, możliwość obrazowania przy użyciu detektora BSE i EDX Instytut Inżynierii Materiałów Polimerowych i Barwników, Oddział Przetwórstwa Tworzyw Polimerowych
Wielokomorowy system analityczny przeznaczony do badania powierzchni ciał stałych PREVAC 2008

1. skanujący spektrometr fotoelektronów XPS PHI 5000 VersaProbe ; prod. ULVAC/ Physical Electronics – Japonia/USA wyposażony w:

- monochromatyczne źródło XPS (Al)

- klasyczne działo XPS wyposażone w podwójną anodę Mg/Zr

- spektrometr elektronów Augera (AES)

- mikroskop SEM

- działo C60

2. mikroskop tunelowy AFM/STM prod. RHK, USA.

3. komora preparacyjna wyposażona dodatkowo w:

- układy do nanoszenia cienkich warstw metali lub półprzewodników,

- spektrometr elektronów Augera (AES),

- dyfraktometr niskoenergetycznych elektronów (LEED),

- układ do termoprogramowanej desorpcji (TPD) z kwadrupolowym spektrometrem masowym (QSM),

-źródło plazmy azotowej.

4. reaktor wysokociśnieniowy,

5. komora FTIR		 Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Mikroskop SEM Nova Nano SEM 450 FEI 2012

Źródło emisji elektronów Schottky'ego; energia wiązki 50eV-30keV; detektor wysokorozdzielczy SE pracujący w trybie immersyjnym (TLD) oraz detektor standardowy ETD. Mikroskop opcjonalnie może pracować w trybie STEM, dodatkowo mikroskop wyposażony jest w urządzenie do czyszczenia powierzchni plazmą, pułapką kontaminacyjną, chłodzoną ciekłym azotem oraz śluzą do szybkiego wprowadzania próbek; spektrometry EDX, WDX.

 Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Wysokorozdzielczy środowiskowy skaningowy mikroskop elektronowy Quanta 250 FEG FEI Company 2009 Wyposażony w działo elektronowe z emisją polową (emiter Schottky'ego), z możliwością pracy w trzech trybach próżniowych: wysoka próżnia (HiVac), niska próżnia (LoVac), rozszerzona niska próżnia (ESEM). Mikroskop wyposażony jest w: detektory elektronowe typu SE i BSE: ETD, LFD, GAD, GSED, VCD, BSED i kamerę CCD; detektor elektronów przechodzących WetSTEM; stolik chłodzący Peltiera; rentgenowski spektrometr EDS EDAX Genesis XM 4i Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Transmisyjny mikroskop elektronowy TECNAI F20 TWIN FEI Company 2010 Działo elektronowe z emisją polową (emiter Schottky'ego) umożliwiające pracę w zakresie napięć przyspieszających 20 ‑ 200 kV w trybach: TEM, HR-TEM, STEM (z detektorem obrazowym HAADF), tomografii elektronowej oraz dyfrakcji elektronowej. Wszystkie podzespoły mikroskopu są sterowane elektronicznie. Uchwyty do preparatów: jednopochyłowy, dwupochyłowy z niskim poziomem tła, do tomografii o rozszerzonym polu widzenia. Kamera CCD Eagle 4k HS 200 kV. Dodatkowo mikroskop wyposażony jest w przystawkę do pracy w technice Cryo, w skład której wchodzą: krioholdery Gatan 70 z systemem przenoszenia preparatów zamrożonych do kolumny mikroskopu, stacja Gatan 655 do suchego odpompowywania krioholderów oraz urządzenie Vitrobot Mk4 do witryfikacji preparatów mikroskopowych FEI Company. Wyposażenie do preparatyki: ultramikrotom Leica EM UC7 z komorą mrożeniową, urządzenie do czyszczenia plazmowego Fischione Model 1020 Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Skaningowy mikroskop elektronowy JSM-6010LA Jeol 2012

Zakres pracy: w warunkach wysoko-próżniowych (HV) z preparatami przewodzącymi prąd elektryczny; w warunkach nisko-próżniowych z dowolnymi preparatami z detektorem elektronów wstecznie rozproszonych (BSED). Parametry mikroskopu: zdolność rozdzielcza (HV) – 4.0 nm (20 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV); napięcie przyśpieszające: od 0,5 do 20 kV; powiększenie od 5 do 300 000 x; niska próżnia: 10 -100 Pa; systemy EDS, mapping pierwiastkowy

 Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów
Skaningowy tunelowy mikroskop elektronowy (STM oraz AFM) Multi Mode 8 Bruker 2012 Wyposażony w różnego rodzaju sondy pomiarowe Politechnika Rzeszowska, Wydział Chemiczny, Laboratorium Przetwórstwa i Badania Tworzyw Polimerowych
Mikroskop Elektronowy Transmisyjny Tesla BS 500 Tesla 1984 Napięcie przyspieszające 80 kV; możliwość uzyskiwania dyfrakcji elektronowych i powiększeń do 300 000 x Politechnika Gdańska, Wydział Chemiczny, Katedra Technologii Polimerów
Skaningowy mikroskop elektronowy TM 3000 Hitachi 2010 Z przystawką EDS Uniwersytet Opolski, Wydział Chemii, Katedra Technologii Chemicznej i Chemii Polimerów
Skaningowy mikroskop elektronowy JSM 5600 Jeol 1998 Rozdzielczość: 3,5 nm; napięcie przyspieszające: od 0,5 do 30 kV; powiększenie od 18 x do 300 000 x; wyposażony w napylarkę próżniową JFC 1300 firmy Jeol Uniwersytet Technologiczno-Przyrodniczy im. Jana i Jędrzeja Śniadeckich, Wydział Inżynierii Mechanicznej
Skaningowy mikroskop elektronowy SEM VEGA 3-LMU Tescan 2011 Możliwość badania próbek w wysokiej próżni (0,005 Pa; detektory SE i BSE); próbki przewodzące lub napylone warstwą metalu (rozdzielczość 3.0 nm); możliwość badania próbek w zmiennej próżni (3 – 500 Pa, detektory LVSTD i BSE, rozdzielczość 3.5 nm); próbki nieprzewodzące mogą być badane w ich naturalnym stanie (bez napylania); powiększenia: 4 – 1000000 x; napięcie przyspieszające: 200 V – 30 kV. Mikroskop zintegrowany jest z oprogramowaniem do uzyskiwania obrazów 3D (Alicona Imaging) oraz dyspersyjnym analizatorem rentgenowskim (EasyEDX) umożliwiającym przeprowadzenie analizy składu chemicznego, wyposażony jest w napylarkę próżniową (Au) oraz stolik Peltiera do zamrażania wilgotnych próbek i zawiesin Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Wydział Nauk o Żywności i Rybactwa, Centrum Bioimmobilizacji i Innowacyjnych Materiałów Opakowaniowych
Skaningowy mikroskop elektronowy 6460LV Joel 2004 Wyposażony w dużą komorę próbek (max. średnica próbki 152 mm, masa do 2 kg). Zdolność rozdzielcza mikroskopu w zależności od napięcia przyspieszającego wynosi 3-4 nm. Zakres napięcia przyspieszającego wiązkę elektronów w mikroskopie wynosi od 100 V do 30 kV. Mikroskop wyposażony jest w zestaw spektrometrów rentgenowskich: EDS INCA X-act Energy 350, WDS INCA Wawe i EBSD INCA Crystal (wszystkie spektrometry firmy Oxford Instruments) Akredytacja PCA nr AB 197 w zakresie badań makro i mikrostruktury następujących materiałów: stopy metali, ceramika, kompozyty, tworzywa sztuczne wg PN-EN ISO 9220:2001 Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania