BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Aparaty do analizy polimerów


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Maszyna wytrzymałościowa 5500R Instron bd. Maszyna do badania wytrzymałości materiałów podczas rozciągania i zginania, wyposażona w 3 głowice pomiarowe: do 0,5 kN, 5 kN, 100 kN Badania wykonywane wg norm: PN-EN ISO 178, PN- EN ISO 527 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Różnicowy kalorymetr skaningowy z wieloczęstotliwościową modulacją temperatury DSC1 Mettler Toledo 2008 Zakres temperatury pomiaru: od -150 oC do 500 oC, szybkość grzania: 0,2 – 300 K/min, chłodzenie celi za pomocą ciekłego azotu, kontroler dopływu dwóch gazów reakcyjnych (argon, powietrze) w bezpośrednie otoczenie próbki Wyznaczanie parametrów przemian fazowych wg norm DIN53765, ASTM D3418/IEC1006, ASTM E1356, kinetyki reakcji wg ASTM E698, E1641 Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Analizator termograwimetryczny TGA/DSC1 Mettler Toledo 2010 Zakres temperatury pomiaru od 25oC do 1100oC, kontroler dopływu dwóch gazów reakcyjnych (argon, powietrze) w bezpośrednie otoczenie próbki, mikrowaga z automatyczną wewnętrzną adiustacją i linearyzacją zakres ważenia: 5 g, dokładność odczytu 1mg Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Różnicowy kalorymetr skaningowy DSC Q2000 TA Instruments 2011 Dwa zakresy temperatury: od -180 oC do 550 oC i od -90 oC do 550 oC Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. Ignacego Mościckiego
Analizator dynamiczno-mechaniczny DMA/SDTA861 Mettler-Toledo 2011 Temperatura pomiaru od -150 do +500oC, chłodzenie ciekłym azotem, zakres siły 0,005-18 N, zakres częstotliwości: 0,001 - 900 Hz, zakres przemieszczenia: ±1,6 mm, moduł ścinania 10-108 Pa (max. częstotliwość 1000 Hz), moduł rozciągania 10-107 Pa (max. częstotliwość ≥ 250 Hz), moduł ściskania 10- 107 Pa (max. częstotliwość ≥ 250 Hz) Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Chromatograf gazowy HP 5890 Hewlett-Packard bd. Detektory: FID oraz ECD Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Inwersyjny chromatograf gazowy 5890A Hewlet Packard 2005

Zakres temperatury pomiaru 20-325 oC, sygnał 0-830000 mV, detektor jonizacyjno-płomieniowy wysokiej czułości (FID), przystosowany do pracy z kolumnami stalowymi i miedzianymi o wymiarach 3,17×300-400 mm

Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Reometr rotacyjny ARES-G2 TA Instruments 2010 Pomiar naprężenia niezależnie od zastosowanego odkształcenia ścinającego, zakres momentu obrotowego od 0,05 µNm do 200 mNm, zakres siły 0,001 – 20 N, zakres temperatury od -150 oC do +600 oC, chłodzenie ciekłym azotem, moduł do pomiarów dielektrycznych DETA Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Reometr bezrotorowy MDR2000 Alpha Technologies 2010 Zakres temperatury pomiaru od 25 oC do 200 oC, częstotliwość oscylacji 1,667 Hz, odkształcenie 0,2; 0,5; 1 i 3o Badania zgodnie z normami ASTM D5289, ISO 6502 Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Reometr rotacyjny bezrotorowy D-RPA 3000 MonTech 2011 Częstość oscylacji od 0,001–100 Hz, zakres oscylacji od ± 0,0001o do ± 180o, moment obrotowy 0,0001 do 235 dNm, temperatura pomiaru do 230 oC Praca urządzenia zgodna z normami: ISO 6502, ASTM D 5289, ASTM D 6204, ASTM D 6601, DIN 53529. Możliwość wykonywania badań zleconych. Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Termometr elektroniczny CHY502 K/J Chy Firemate 2010 Odczyt cyfrowy, zakres pomiarowy: od -200 °C do 1050 °C, czujnik temperatury PTR 2-45-200 Limatherm sensor Instytut Inżynierii Materiałów Polimerowych i Barwników, Oddział Przetwórstwa Tworzyw Polimerowych
Aparat do pomiaru temperatury topnienia i wrzenia moduł pomiarowy: FP81/HT, moduł procesorowy: FP-90 Mettler Toledo bd. Zakres pomiarowy: 30 – 200 °C Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Analizator dyspersji napełniaczy w kompozytach DisperTester 3000 MonTech 2011 Pomiar metodą analizy rozproszonego światła, zintegrowana kamera o rozdzielczości 5 Mpx, powiększenia 1000, 100 i 30 razy Urządzenie zgodne z normą ISO 11345 Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
NanoTest 600 MicroMaterials, Wrexham, UK 1998 Możliwe obciążenie indentera 0,1-20 mN; indentery: Berkovich (diamentowy), kulka (stalowy) Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Mikroskop Sił Atomowych Metrology series 2000 Molecular imaging, USA 2000 Pracujący w trybach: kontaktowym lub oscylacyjnym; głowica pomiarowa wyposażona w dźwignię krzemową CSC37 (Mikro Mash, Estonia) Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Tribometr T-05 Instytut Technologii Eksploatacji, Radom, Polska 1998 Możliwość rejestracji siły tarcia oraz częstotliwości jej zmian, obciążenie max. 100 N Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Tribometr T-15 Instytut Technologii Eksploatacji, Radom, Polska 1998 Możliwość rejestracji siły tarcia oraz częstotliwości jej zmian, obciążenie max. 100 N Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Mikroskop polaryzacyjny Mettler Toledo bd. Płyta grzewcza FP82, termosystem FP 900. Zakres temperatury: 20 °C–375 ºC, czytnik temperatury – PT 100, szybkość przyrostu temperatury: 10–20 ºC/min, rozmiar komory próbki: 45 x 30 x 2 mm, pole obserwacji: ф = 2,5 mm Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Mikroskop stereoskopowy Leica MZ6 z kamerą optyczną OptaTech 2003 Mikroskop z głębią ostrości, powiększenia do 500x Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Tensjometr K100MK2 KRÜSS bd. Tensjometr procesorowy Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników