BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Aparat do oznaczania temperatury kruchości

Aparat: Aparat do oznaczania temperatury kruchości
Typ/model:
Producent: Toyo seiki
Rok produkcji: 1994
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: Temperatura testu: od 0 ºC do -65 ºC; prędkość uderzeniowa zderzaka: 1,97 m/s
Zastosowanie: Oznaczanie najniższej temperatury, w której guma poddana uderzeniu nie ulega pęknięciom
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: badanie akredytowane: PN-ISO 812:2015-12
Nazwa instytucji: Instytut Inżynierii Materiałów Polimerowych i Barwników, Oddział Elastomerów i Technologii Gumy, Laboratorium Badawcze „Labgum”
Adres:

05-820 Piastów, ul. Harcerska 30
Kontakt: mgr inż. Michał Lewandowski; tel. 22 723 60 25 wew. 182; m.lewandowski@impib.pl
Słowa kluczowe: guma, wyroby gumowe, temperatura kruchości

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego