BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Dyfraktometr rentgenowski

Aparat: Dyfraktometr rentgenowski
Typ/model: Ultima IV
Producent: Rigaku
Rok produkcji: bd.
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: Lampa rtg Cu o mocy 2 kW; generator: 20-60 kV, 2-60 mA; goniometr: geometria: θs/θd, promień: 285 mm, zakres kątowy 2θ: –3 ÷162°, minimalna wartość kroku pomiarowego: 0,0001°, szybkość skanowania regulowana w zakresie od 0,02 do 100°/min (2θ); licznik scyntylacyjny NaI(Tl) o liniowej charakterystyce w zakresie 0÷700 000 cps; system optyczny: CBO (optyka promienia krzyżowego), optyka z wiązką ogniskującą (Bragg-Brentano) filtr Ni, geometria wiązki równoległej (Parallel Beam) CBO-f (optyka promienia krzyżowego z układem mikroogniskującym), średnica wiązki 0,4mm. Szczeliny: DS w zakresie 0,01 do 7,00 mm, SS i RS: 0,01 do 20 mm; monochromator uniwersalny przystosowany do pracy z wiązką równoległą i geometrią ogniskującą Bragga-Brentano. Układ pomiarowy SAXS z zestawem szczelin; oprogramowanie XRD do określania jakościowego składu fazowego badanych układów; oprogramowanie SAXS obejmujące korekcję zniekształceń kolimacyjnych, określanie wielkości cząstek i wielkości porów. Baza danych ICDD. Komora temperaturowa: Anton Paar TTK 450, zakres temperaturowy: od 20 °C do 450 °C
Zastosowanie: Jakościowa analiza fazowa (identyfikacja składu fazowego). Wynik analizy zawiera opis zidentyfikowanych faz krystalicznych oraz dyfraktogram zestawiony z modelami dyfraktogramów zidentyfikowanych faz uzyskanymi z bazy danych struktur krystalicznych ICDD. Ilościowa analiza fazowa (ilościowe oznaczenie składu fazowego badanych próbek). Określenie struktury krystalicznej materiałów metodą porównawczą zgodnie z algorytmem Rietvelda. Pomiar stałych sieciowych metodą Scherrera. Badania zmian struktury w funkcji temperatury. Wyznaczanie średniej wielkości krystalitów metodą Scherrera. Określenie struktury oraz składu fazowego otrzymanych kompozytów (stopień interkalacji, polimorfizm, wskaźnikowanie)
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm:
Nazwa instytucji: Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Adres:

50-370 Wrocław, ul. Wybrzeże Wyspiańskiego 27

Kontakt: prof. dr hab. inż. Jacek Pigłowski; tel. 48 71 320 35 10, fax 48 71 320 28 14
Słowa kluczowe:

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego