BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Laserowy system pomiarowy

Aparat: Laserowy system pomiarowy
Typ/model: LSP30
Producent: Compact
Rok produkcji: bd.
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: Zakres pomiarowy: od 0 do 30 m; rozdzielczość pomiarowa 0,1 μm
Zastosowanie: Pomiary błędów kształtu, prostoliniowości
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm:
Nazwa instytucji: Politechnika Lubelska, Wydział Mechaniczny, Katedra Podstaw Inżynierii Produkcji
Adres:

20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 36
Kontakt: T.Warda@pollub.pl
Słowa kluczowe: pomiary interferometryczne

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego