Aparat: |
Lepkościomierz stożek/płytka |
Typ/model: |
DV-II |
Producent: |
Brookfield |
Rok produkcji: |
bd. |
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: |
Precyzyjna geometria typu stożek/płytka zapewniająca dużą dokładność pomiaru; niewielka objętość próbki (0,5–2 ml); wysokie wartości szybkości ścinania (400–1500 1/s); możliwość pomiaru bardzo niskich lepkości (od 0,1 cP); zakres temperatury: od 0 ºC do 100 ºC; możliwość współpracy z komputerem klasy PC (umożliwia gromadzenie danych z lepkościomierza i zapisywanie ich na dysk, druk oraz analizę zebranych danych) |
Zastosowanie: |
Do oznaczania lepkości produktów, które są cieczami nienewtonowskimi, a ich lepkość zależy od prędkości obrotowej i geometrii wirnika. |
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: |
Pomiar zgodnie z normą ISO 2555:1989 i jej odpowiednikiem PN-92/C/89402 |
Nazwa instytucji: |
Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego |
Adres: |
01-793 Warszawa, ul. Rydygiera 8 |
Kontakt: |
dr inż. Barbara Szczepaniak; tel. 22 568 20 55; barbara.szczepaniak@ichp.pl |
Słowa kluczowe: |
lepkość, ciecze nienewtonowskie |