| Aparat: |
Microlab 350 |
| Typ/model: |
|
| Producent: |
Thermo Electron |
| Rok produkcji: |
2004 |
| Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: |
Spektrometr AES opcjonalnie wykorzystywany jako spektrometr XPS: źródło emisji elektronów Schottky'ego, analizator sferyczny, działo XPS wyposażone w podwójną anodę Al/Mg, działo jonowe argonowe, mikroskop SEM |
| Zastosowanie: |
Możliwość analizy lokalnej składu chemicznego z rozdzielczością ~25 nm, mapowanie powierzchni oraz analiza liniowa rozkładu pierwiastków. Urządzenie opcjonalnie wyposażone jest w działo jonowe argonowe, które umożliwia profilowanie wgłębne (rozkład przestrzenny pierwiastków). Rozdzielność pozioma metody XPS 2x5 mm |
| Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: |
|
| Nazwa instytucji: |
Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk |
| Adres: |
ul. Kasprzaka 44/52, 01-224 Warszawa |
| Kontakt: |
dr inż. Marcin Pisarek; tel. 22 343 32 91; pisarek@ichf.edu.pl |
| Słowa kluczowe: |
AES, XPS, SE |
| |