BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW

Mikroskop SEM

Aparat:	Mikroskop SEM
Typ/model:	Nova Nano SEM 450
Producent:	FEI
Rok produkcji:	2012
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe:	Źródło emisji elektronów Schottky'ego; energia wiązki 50eV-30keV; detektor wysokorozdzielczy SE pracujący w trybie immersyjnym (TLD) oraz detektor standardowy ETD. Mikroskop opcjonalnie może pracować w trybie STEM, dodatkowo mikroskop wyposażony jest w urządzenie do czyszczenia powierzchni plazmą, pułapką kontaminacyjną, chłodzoną ciekłym azotem oraz śluzą do szybkiego wprowadzania próbek; spektrometry EDX, WDX.
Zastosowanie:	Wysokorozdzielcze obrazowanie powierzchni z rozdzielczością około 1 nm; obrazowanie powierzchni z wykorzystaniem elektronów wtórnych (SE) wstecznie rozproszonych (BSE); tryb niskiej próżni umożliwia obrazowanie powierzchni materiałów nieprzewodzących. Mikroskop może być wykorzystany jako mikrosonda rentgenowska; możliwość wykonania analizy lokalnej składu chemicznego mapowania oraz rozkładu liniowego pierwiastków
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm:
Nazwa instytucji:	Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Adres:	ul. Kasprzaka 44/52, 01-224 Warszawa
Kontakt:	dr inż. Marcin Pisarek; tel. 22 343 32 91; pisarek@ichf.edu.pl
Słowa kluczowe:	AES, XPS, SEM