BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Mikroskop Sił Atomowych

Aparat: Mikroskop Sił Atomowych
Typ/model: MultiMode/NanoScope 3D
Producent: Veeco
Rok produkcji: 2007
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: Celka do badań w cieczy, możliwość pomiarów w temperaturze do 60 oC. Skaner 10 µm. Maksymalny rozmiar próbki: średnica 15 mm lub powierzchnia 10 mm x 10 mm, maksymalna grubość próbki z podłożem: 7 mm, maksymalna chropowatość badanej powierzchni próbki: 3.5 µm
Zastosowanie: Obrazowanie i wymiarowanie powierzchni
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm:
Nazwa instytucji: Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Adres: 41-819 Zabrze, ul. M. Curie-Skłodowskiej 34
Kontakt: Andrzej Marcinkowski; tel. 32 271 60 77 w. 792; andrzej.marcinkowski@cmpw-pan.edu.pl
Słowa kluczowe: AFM, mikroskop sił atomowych

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego