Aparat: |
Mikroskop Sił Atomowych AFM |
Typ/model: |
INNOVA |
Producent: |
Vesco |
Rok produkcji: |
2010 |
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: |
Rozmiar próbki (XYZ): 45 mm x 45 mm x 18 mm; zmotoryzowany ruch głowicy w osi Z (18 mm), z możliwością przechyłu; skaner Closed Loop: > 90 um (XY), > 7,5 um (Z); skaner Open Loop: > 5 um (XY), > 1,5 um (Z); dopuszczalny szum w osi Z (RMS): < 50 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop Z (RMS): < 200 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop XY (RMS): < 1.2 nm; zmotoryzowany zoom optyczny 5x; rozdzielczość układu optycznego: < 2um (obiektyw 10 x), 0,75 um (obiektyw 50 x); tryby pracy - standardowe: ContactMode, TappingMode(TM), PhaseImaging(TM), LiftMode(TM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Dark Lift, Lateral Force Microscopy (LFM), Nano-Indentation, Force Modulation Microscopy (FMM), Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM) |
Zastosowanie: |
Analiza topografii powierzchni z wykorzystaniem podstawowych trybów pracy: tryb kontaktowy; tryb przerywanego kontaktu; analiza map kontrastu fazowego w trybie przerywanego kontaktu. Ponadto możliwe są następujące pomiary: pomiar lokalnych zmian przepływu prądu elektrycznego przez próbkę przy użyciu przewodzących ostrzy; obserwacja zmian właściwości mechanicznych |
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: |
|
Nazwa instytucji: |
Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów |
Adres: |
31-155 Kraków, ul. Warszawska 24 |
Kontakt: |
dr inż. Edyta Hebda; tel. 12 628 21 17; c-4@chemia.pk.edu.pl |
Słowa kluczowe: |
AFM |
| |