BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Mikroskop Sił Atomowych

Aparat: Mikroskop Sił Atomowych AFM
Typ/model: INNOVA
Producent: Vesco
Rok produkcji: 2010
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: Rozmiar próbki (XYZ): 45 mm x 45 mm x 18 mm; zmotoryzowany ruch głowicy w osi Z (18 mm), z możliwością przechyłu; skaner Closed Loop: > 90 um (XY), > 7,5 um (Z); skaner Open Loop: > 5 um (XY), > 1,5 um (Z); dopuszczalny szum w osi Z (RMS): < 50 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop Z (RMS): < 200 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop XY (RMS): < 1.2 nm; zmotoryzowany zoom optyczny 5x; rozdzielczość układu optycznego: < 2um (obiektyw 10 x), 0,75 um (obiektyw 50 x); tryby pracy - standardowe: ContactMode, TappingMode(TM), PhaseImaging(TM), LiftMode(TM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Dark Lift, Lateral Force Microscopy (LFM), Nano-Indentation, Force Modulation Microscopy (FMM), Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM)
Zastosowanie: Analiza topografii powierzchni z wykorzystaniem podstawowych trybów pracy: tryb kontaktowy; tryb przerywanego kontaktu; analiza map kontrastu fazowego w trybie przerywanego kontaktu. Ponadto możliwe są następujące pomiary: pomiar lokalnych zmian przepływu prądu elektrycznego przez próbkę przy użyciu przewodzących ostrzy; obserwacja zmian właściwości mechanicznych
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm:
Nazwa instytucji: Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów
Adres: 31-155 Kraków, ul. Warszawska 24
Kontakt: dr inż. Edyta Hebda; tel. 12 628 21 17; c-4@chemia.pk.edu.pl
Słowa kluczowe: AFM

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego