BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Mikroskop Sił Atomowych AFM

Aparat: Mikroskop Sił Atomowych
Typ/model: Metrology series 2000
Producent: Molecular imaging, USA
Rok produkcji: 2000
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: Pracujący w trybach: kontaktowym lub oscylacyjnym; głowica pomiarowa wyposażona w dźwignię krzemową CSC37 (Mikro Mash, Estonia)
Zastosowanie: Badanie morfologii i powierzchni w trybie kontaktowym oraz oscylacyjnym
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm:
Nazwa instytucji: Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Adres: 90-924 Łódź, ul. Stefanowskiego 12/16
Kontakt: dr inż. Otmar Dobrowolski; tel. 42 631 32 14; otmar.dobrowolski@p.lodz.pl
Słowa kluczowe: warstwa wierzchnia, morfologia powierzchni

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego