BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Skaningowy mikroskop elektronowy

Aparat: Skaningowy mikroskop elektronowy
Typ/model: JSM-6010LA
Producent: Jeol
Rok produkcji: 2012
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe:

Zakres pracy: w warunkach wysoko-próżniowych (HV) z preparatami przewodzącymi prąd elektryczny; w warunkach nisko-próżniowych z dowolnymi preparatami z detektorem elektronów wstecznie rozproszonych (BSED). Parametry mikroskopu: zdolność rozdzielcza (HV) – 4.0 nm (20 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV); napięcie przyśpieszające: od 0,5 do 20 kV; powiększenie od 5 do 300 000 x; niska próżnia: 10 -100 Pa; systemy EDS, mapping pierwiastkowy

Zastosowanie: Obserwacja mikrostruktury materiałów polimerowych oraz analiza składu punktowego i powierzchniowego
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm:
Nazwa instytucji: Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów
Adres: 31-155 Kraków, ul. Warszawska 24
Kontakt: dr inż. Edyta Hebda; tel. 12 628 21 17; c-4@chemia.pk.edu.pl
Słowa kluczowe: SEM, EDS

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego