Aparat: |
Skaningowy mikroskop elektronowy |
Typ/model: |
JSM-6010LA |
Producent: |
Jeol |
Rok produkcji: |
2012 |
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: |
Zakres pracy: w warunkach wysoko-próżniowych (HV) z preparatami przewodzącymi prąd elektryczny; w warunkach nisko-próżniowych z dowolnymi preparatami z detektorem elektronów wstecznie rozproszonych (BSED). Parametry mikroskopu: zdolność rozdzielcza (HV) – 4.0 nm (20 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV); napięcie przyśpieszające: od 0,5 do 20 kV; powiększenie od 5 do 300 000 x; niska próżnia: 10 -100 Pa; systemy EDS, mapping pierwiastkowy |
Zastosowanie: |
Obserwacja mikrostruktury materiałów polimerowych oraz analiza składu punktowego i powierzchniowego |
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: |
|
Nazwa instytucji: |
Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów |
Adres: |
31-155 Kraków, ul. Warszawska 24 |
Kontakt: |
dr inż. Edyta Hebda; tel. 12 628 21 17; c-4@chemia.pk.edu.pl |
Słowa kluczowe: |
SEM, EDS |
| |