| Aparat: |
Skaningowy mikroskop elektronowy |
| Typ/model: |
TM 3000 |
| Producent: |
Hitachi |
| Rok produkcji: |
2010 |
| Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: |
Stolikowy skaningowy mikroskop elektronowy SEM typu „table-top”, napięcie wiązki 5,15 keV, powiększenia do 30 000x, rozdzielczość ok. 30 nm |
| Zastosowanie: |
Możliwość obrazowania powierzchni próbek przewodzących oraz nieprzewodzących, wielkość próbek do 50 x 50 x 50 mm |
| Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: |
|
| Nazwa instytucji: |
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Zakład Materiałów Ceramicznych i Polimerowych |
| Adres: |
02-507 Warszawa, ul. Wołoska 141 |
| Kontakt: |
dr hab. Anna Boczkowska; tel. 22 234 77 62; abocz@meil.pw.edu.pl, mgr inż. Rafał Kozera; tel. 22 234 57 18; rkozera@meil.pw.edu.pl |
| Słowa kluczowe: |
SEM, obrazowanie powierzchni próbek |
| |