BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Skaningowy mikroskop elektronowy

Aparat: Skaningowy mikroskop elektronowy
Typ/model: 6460LV
Producent: Joel
Rok produkcji: 2004
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: Wyposażony w dużą komorę próbek (max. średnica próbki 152 mm, masa do 2 kg). Zdolność rozdzielcza mikroskopu w zależności od napięcia przyspieszającego wynosi 3-4 nm. Zakres napięcia przyspieszającego wiązkę elektronów w mikroskopie wynosi od 100 V do 30 kV. Mikroskop wyposażony jest w zestaw spektrometrów rentgenowskich: EDS INCA X-act Energy 350, WDS INCA Wawe i EBSD INCA Crystal (wszystkie spektrometry firmy Oxford Instruments)
Zastosowanie: Badania makrostruktury, mikrostruktury oraz morfologii metodą elektronowej mikroskopii skaningowej w wysokiej próżni (HV) oraz obniżonej próżni (LV)
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: Akredytacja PCA nr AB 197 w zakresie badań makro i mikrostruktury następujących materiałów: stopy metali, ceramika, kompozyty, tworzywa sztuczne wg PN-EN ISO 9220:2001
Nazwa instytucji: Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
Adres:

30-011 Kraków, ul. Wrocławska 37a

Kontakt: prof. dr hab. inż. Lucyna Jaworska, Kierownik CIMiTS; tel. 12 6317321; lucyna.jaworska@ios.krakow.pl, mgr inż. Andrzej Kalinka; 126317360; andrzej.kalinka@ios.krakow.pl, mgr inż. Jolanta Laszkiewicz-Łukasik; 12 6317360; jolanta.laszkiewicz@ios.krakow.pl
Słowa kluczowe: skaningowy mikroskop elektronowy, SEM, badania makrostruktury, mikrostruktury, składu chemicznego

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego