| Aparat: |
Spektrofotometr UV-VIS-NIR |
| Typ/model: |
V-670 |
| Producent: |
Jasco |
| Rok produkcji: |
2009 |
| Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: |
Spektrofotometr dwuwiązkowy o zakresie długości fali od 190 nm do 2700 nm + wyposażenie dodatkowe: 1) sfera całkująca 150 mm ILN-725 2) komputer Komputronik Pro DX-220 XP 3) monitor LCD 19” iiyama ProLite B1902S 4) drukarka HP Color LaserJet 1215 |
| Zastosowanie: |
Badania odbijalności promieniowania w zakresie 200-2500 nm i obliczanie całkowitego współczynnika odbicia promieniowania słonecznego (TSR) |
| Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: |
|
| Nazwa instytucji: |
Instytut Inżynierii Materiałów Polimerowych i Barwników, Oddział Zamiejscowy Farb i Tworzyw |
| Adres: |
44-100 Gliwice, ul.Chorzowska 50A |
| Kontakt: |
Małgorzata Zubielewicz; tel. 32 231 90 41-42 wew. 38; m.zubielewicz@impib.pl |
| Słowa kluczowe: |
powłoki odbijające promieniowanie słoneczne, charkterystyka widmowa |