BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Urządzenie do pomiaru grubości powłok

Aparat: Urządzenie do pomiaru grubości powłok
Typ/model: 455
Producent: Erichsen
Rok produkcji: bd.
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: Zakres pomiarowy: 200/500/1000/2000 μm
Zastosowanie: Pomiar grubości powłok na dowolnych podłożach metodą nacięć. W systemach wielowarstwowych umożliwia pomiar zestawu i każdej warstwy z osobna.
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: Badania wykonywane wg normy AS 1580
Nazwa instytucji: Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Adres:

01-793 Warszawa, ul. Rydygiera 8

Kontakt: Anna Niska; tel. 22 568 22 37; anna.niska@ichp.pl
Słowa kluczowe: grubość powłok, metoda nacięć

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego