| Aparat: |
Urządzenie do pomiaru grubości powłok metodą nacięć |
| Typ/model: |
455 |
| Producent: |
Erichsen |
| Rok produkcji: |
bd. |
| Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe: |
Zakres pomiarowy: 200, 500, 1000, 2000 μm |
| Zastosowanie: |
Pomiar grubości powłok na dowolnych podłożach. W systemach wielowarstwowych umożliwia pomiar zestawu i każdej warstwy z osobna. |
| Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm: |
Badanie wg AS 1580 |
| Nazwa instytucji: |
Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego |
| Adres: |
01-793 Warszawa, ul. Rydygiera 8 |
| Kontakt: |
Anna Niska; tel. 22 568 22 37; anna.niska@ichp.pl |
| Słowa kluczowe: |
grubość powłok, metoda nacięć |
| |