BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Wielokomorowy system analityczny do badania powierzchni ciał stałych

Aparat: Wielokomorowy system analityczny przeznaczony do badania powierzchni ciał stałych
Typ/model:
Producent: PREVAC
Rok produkcji: 2008
Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe:

1. skanujący spektrometr fotoelektronów XPS PHI 5000 VersaProbe ; prod. ULVAC/ Physical Electronics – Japonia/USA wyposażony w:

- monochromatyczne źródło XPS (Al)

- klasyczne działo XPS wyposażone w podwójną anodę Mg/Zr

- spektrometr elektronów Augera (AES)

- mikroskop SEM

- działo C60

2. mikroskop tunelowy AFM/STM prod. RHK, USA.

3. komora preparacyjna wyposażona dodatkowo w:

- układy do nanoszenia cienkich warstw metali lub półprzewodników,

- spektrometr elektronów Augera (AES),

- dyfraktometr niskoenergetycznych elektronów (LEED),

- układ do termoprogramowanej desorpcji (TPD) z kwadrupolowym spektrometrem masowym (QSM),

-źródło plazmy azotowej.

4. reaktor wysokociśnieniowy,

5. komora FTIR
Zastosowanie:

Analiza powierzchni ciał stałych (do 10 µm2): charakterystyka chemiczna, skład powierzchni, analiza kątowa, mapy chemiczne,

profilowanie wgłębne wiązką Ar z jednoczesną analizą XPS.

Preparatyka cienkich warstw metali lub półprzewodników i analiza in situ preparowanych warstw.

Prowadzenie reakcji katalitycznych w kontrolowanych warunkach ciśnienia i temperatury.

Obrazowanie morfologii powierzchni (SEM, AFM)
Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm:
Nazwa instytucji: Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Adres: ul. Kasprzaka 44/52, 01-224 Warszawa
Kontakt: dr inż. Janusz W. Sobczak; tel 22 343 34 36; jsobczak@ichf.edu.pl
Słowa kluczowe: XPS, AES, TPD, LEED, STM, AFM, FTIR, QSM

Przejdź do Wyszukiwania zaawansowanego