BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Mikroskopy


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Mikroskop bd.
Mikroskop Lab 1 Stuart bd. Obserwacja w świetle przechodzącym Politechnika Częstochowska, Zakład Przetwórstwa Polimerów
Mikroskop polaryzacyjny z przystawką termiczną Mettler Toledo 1995 Zakres temp. pracy przystawki: od 20 °C do 300 °C; regulacja temperatury co 0,1 °C; sprzężona z kamerą wideo Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych
Mikroskop laboratoryjny z kamerą video LV 100 ND Nikon 2013 Mikroskop metalograficzny; praca w jasnym, ciemnym polu; kolorowa polaryzacja; kontrast Nomarskiego; zdjęcia: 2D, 3D; stolik grzewczy, stolik mechaniczny; kamera video + oprogramowanie; stanowisko komputerowe Politechnika Lubelska, Katedra Procesów Polimerowych
Mikroskop stereoskopowy SteREO Discovery V20 Zeiss 2011 Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Wydział Nauk o Żywności i Rybactwa, Centrum Bioimmobilizacji i Innowacyjnych Materiałów Opakowaniowych
Mikroskop odwrócony Axio Observer D1 Zeiss 2011 Optyka: tor oświetlenia fluorescencyjnego apochromatyczny; oświetlacz halogenowy 100 W, z pełną możliwością centrowania; kondensor typu „Long Distance” o odległości roboczej co najmniej 26 mm, aperturze numerycznej co najmniej 0,55; sześciopozycyjny (jasne pole, Ph1, Ph2, Ph3, 2 x kontrast interferencyjny). Automatycznie centrująca się lampa fluorescencyjna, palnik rtęciowy 100 W, filtry fluorescencyjne do fluorochromów: DAPI, GFP i CY3 (o transmisji co najmniej 95 %). Obiektywy: 10x/N.A. 0,25 / Ph1 (planachromatyczny), LD corr 20x/N.A. 0,4 (semiplanapochromatyczny) d=0 ... 1,5 mm, LD corr 40x/ N.A. 0,60 (semiplanapochromatyczny) d=0 ... 1,5 mm. Okulary: powiększenie 10x, szerokopolowe, pole widzenia co najmniej 23 mm. Metody obserwacji: kontrast interferencyjny (kontrast Nomarskiego) dla obiektywów: 20x, 40x Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Wydział Nauk o Żywności i Rybactwa, Centrum Bioimmobilizacji i Innowacyjnych Materiałów Opakowaniowych
Mikroskopowy analizator cząstek Morphology G3s Malvern Instruments 2003 W skład instrumentu wchodzi m. in. kamera cyfrowa, przystawka do dyspersji na sucho i cela do pomiaru na mokro Instytut Farmaceutyczny, Zakład Analityki Badawczej
Mikroskop steroskopowy SL-T11/K CS-Creative Solutions 2004 W skład aparatu wchodzi aparat cyfrowy i płytka wzorcowa 5mm/0,1 (nr. świadectwa GUM: 1975-M11-419-1876/2004). Instytut Farmaceutyczny, Zakład Analityki Badawczej
Mikroskop optyczny Eclipse E 400 Nikon 2000 Zestaw obiektywów; kamery: OPTA-TECH, GP KR 222E; system obrazowania; stolik grzejno-chłodzący Politechnika Poznańska, Instytut Techn. Maszyn, Zakład Tworzyw Sztucznych
Mikroskop Eclipse E 200 Nikon 2005 Do obserwacji w świetle przechodzącym, odbitym i spolaryzowanym; wyposażony w kamerę cyfrową NIKON DIGITAL SIGHT DS-5M Zakład Przetwórstwa Polimerów, Instytut Technologii Mechanicznych, Wydział Inżynierii Mechanicznej i Informatyki, Politechnika Częstochowska
Mikroskop optyczny bd.
Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej im. Józefa Tuliszkowskiego - Państwowy Instytut Badawczy
Mikroskop Evolution 300 Delta Optical 2013 Mikroskop optyczny z kamerą HDCE-X3. Katedra Towaroznawstwa Przemysłowego i Chemii Akademii Morskiej w Gdyni
Mikroskop Sił Atomowych Metrology series 2000 Molecular imaging, USA 2000 Pracujący w trybach: kontaktowym lub oscylacyjnym; głowica pomiarowa wyposażona w dźwignię krzemową CSC37 (Mikro Mash, Estonia) Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Mikroskop Sił Atomowych MultiMode/NanoScope 3D Veeco 2007 Celka do badań w cieczy, możliwość pomiarów w temperaturze do 60 oC. Skaner 10 µm. Maksymalny rozmiar próbki: średnica 15 mm lub powierzchnia 10 mm x 10 mm, maksymalna grubość próbki z podłożem: 7 mm, maksymalna chropowatość badanej powierzchni próbki: 3.5 µm Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Mikroskop Sił Atomowych AFM INNOVA Vesco 2010 Rozmiar próbki (XYZ): 45 mm x 45 mm x 18 mm; zmotoryzowany ruch głowicy w osi Z (18 mm), z możliwością przechyłu; skaner Closed Loop: > 90 um (XY), > 7,5 um (Z); skaner Open Loop: > 5 um (XY), > 1,5 um (Z); dopuszczalny szum w osi Z (RMS): < 50 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop Z (RMS): < 200 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop XY (RMS): < 1.2 nm; zmotoryzowany zoom optyczny 5x; rozdzielczość układu optycznego: < 2um (obiektyw 10 x), 0,75 um (obiektyw 50 x); tryby pracy - standardowe: ContactMode, TappingMode(TM), PhaseImaging(TM), LiftMode(TM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Dark Lift, Lateral Force Microscopy (LFM), Nano-Indentation, Force Modulation Microscopy (FMM), Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM) Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów
Mikroskop FTIR Nicolet iN10MX Thermo Scientific 2009

Możliwość wykonywania widm FTIR w zakresie 4000-400 cm-1 próbek w postaci ciekłej bądź stałej, metodami odbiciowymi bądź transmisyjnymi.

 Politechnika Rzeszowska, Wydział Chemiczny, Katedra Technologii i Materiałoznawstwa Chemicznego
Mikroskop Alphaphot-2 Nikon 1997 Mikroskop metalograficzny z przystawką EPI (światło odbite), połączony z aparatem Casio QV-2900UX. Katedra Towaroznawstwa Przemysłowego i Chemii Akademii Morskiej w Gdyni