BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
...back...
Drukuj


Aparaty do analizy polimerów


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Aparat do badania odporności na przenikanie powietrza Ampero 2006 Zakres: od 5 dm3/h/m2/50Pa do 600 m3/h/m2/50Pa Badania akredytowane/ wg PN-EN 12114:2003 Centralny Ośrodek Badawczo Rozwojowy Przemysłu Izolacji Budowlanej
Aparat do badania odporności na uderzenie Ampero 2005 Zakres do 2000 mm Badania akredytowane/ wg PN-EN 12691:2007 Centralny Ośrodek Badawczo Rozwojowy Przemysłu Izolacji Budowlanej
Analizator powierzchni właściwej, porowatości i adsorpcji chemicznej gazów Autosorb1 Quantachrome Ins. 2008 Składa się z analizatora i zestawu komputerowego Instytut Włókiennictwa
Waga półmikroanalityczna CP 225 Sartorius bd. Z osprzętem do wyznaczania gęstości. Zakres mas: 1 mg - 220 g Politechnika Częstochowska, Zakład Przetwórstwa Polimerów
Wagosuszarka WPS 50 SX Radwag 2007 Politechnika Częstochowska, Zakład Przetwórstwa Polimerów
Połyskomierz Elcometer 406L Novo-Gloss 2008 Przenośny Politechnika Częstochowska, Zakład Przetwórstwa Polimerów
Pirometr bd. Przenośny Politechnika Częstochowska, Zakład Przetwórstwa Polimerów
Refraktometr Abbego AR 2/L Krüss Optronic 2005 Zakres pomiarowy: współczynnik załamania światła: 1,300 – 1,700 nD; stężenie cukru: 0,0 – 95 %; rozdzielczość i dokładność: współczynnik załamania światła – 0,0003 nD; stężenie cukru – 0,2 %; dodatkowo światło sztuczne; zakres temperatury pomiaru: od 0 °C do 70 °C Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Gnieźnie, Instytut Ochrony Środowiska
Wagosuszarka AG S50 Axis 2012 Zakres wagi (max) – 50 g; działka odczytowa wagi – 1 mg; temperatura pracy: 18...33 °C; dokładność odczytu wilgotności – 0,01 %; max temp. suszenia 160 °C; czas próbkowania: 1÷180 s; max czas suszenia: 10 h; wymiar szalki – Φ 90 mm; czas nagrzewania komory do suszenia do 100 °C – ok. 1min; promienniki halogenowe – 2x118 mm 200 W Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Gnieźnie, Instytut Ochrony Środowiska
Aparat do oznaczania temperatury punktu białego i minimalnej temperatury powstawania filmu MFT 20F Coesfeld Materialtest Gradient Plate Thermostair bd. Zakres temperatury: -20–100 °C Metodyka pomiaru zgodna z PN-90/C-89415 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Ebuliometry szklane LabMed bd. Zmodyfikowane ebuliometry szklane typu Świętosławskiego Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Termometr cyfrowy F 500 ASL bd. Dwukanałowy termometr platynowy; rozdzielczość 0,001 °C; dokładność pomiaru ± 0,005 °C Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Cyfrowe układy pomiaru i regulacji próżni V-855; Capacitron DM 21 Buchi; Leybold bd. Pomiar ciśnienia absolutnego w zakresie 0–140 kPa. Element pomiarowy – czujnik ceramiczny tensometryczny; rozdzielczość – 0,1 kPa; dokładność – 0,2 kPa Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Automatyczny refraktometr J 57 Rudolph Research Analytical 2011

Temperatura próbki kontrolowana jest za pomocą ogniwa Peltiera

 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Polarymetr AP 100 Atago bd. Pomiar kąta skręcania: od -89,99 do 89,99°; skala cukrowa: -130,00 do +130,00; celka dł. 100 mm Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Aparat do oznaczania powierzchni właściwej i porozymetrii ciał stałych Tristar II 3010 Micrometrics bd.

Pomiar powierzchni właściwej od 0,01m2/g, powierzchni całkowitej od 0,1m2 i pojemności porów od 4x10-6 cm3/g w całym zakresie ciśnienia cząstkowego od 0 do 1.0 P/Po

 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Aparat FP 90 do oznaczania temperatury mięknienia i kroplenia FP 90 Mettler Toledo bd. Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Aparat do oznaczania napięcia powierzchniowego DSA 100E Kruss bd. Zestaw kalibracyjny do pomiarów kąta zwilżania ( 30°, 60° oraz 120°). Zestaw kalibracyjny do pomiarów napięcia powierzchniowego (20 mN/m i 50 mN/m) Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Połyskomierz Pico Gloss503 Erichsen bd. Połyskomierz trójkątowy 20°/60°/85°; wzorzec wysokiego połysku; oprogramowanie Picogloss Pomiary prowadzone zgodnie z normą PN-EN ISO 2813 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Ultradźwiękowy miernik grubości powłok Posi Tector 200 DeFelsko bd. Miernik wyposażony w sondę, wzorzec grubości, żel, certyfikat sprawdzenia wg NIS, oprogramowanie komputerowe do transferu i obróbki danych Badania wg PN-EN ISO 2808 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego