BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Aparaty do analizy polimerów


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Skaningowy mikroskop elektronowy z mikroanalizerem Thermo Fisher SU 70 Hitachi bd. Rozdzielczość maks. 1 nm, analiza EDS, WDS, EBSD, analiza struktury materiałów polimerowych nieprzewodzących (po napyleniu) Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny, Instytut Polimerów
Skaningowy mikroskop elektronowy Quanta 200 FEI Company 2004 Rozdzielczość 3,5 nm. Tryb pracy: wysoka i niska próżnia oraz ESEM. Dodatkowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych Instytut Biopolimerów i Włókien Chemicznych (IBWCh)
Skaningowy mikroskop elektronowy SU 8010 Hitachi 2011 Przystawka EDX, możliwość obrazowania przy użyciu detektora BSE i EDX Instytut Inżynierii Materiałów Polimerowych i Barwników, Oddział Przetwórstwa Tworzyw Polimerowych
Wielokomorowy system analityczny przeznaczony do badania powierzchni ciał stałych PREVAC 2008

1. skanujący spektrometr fotoelektronów XPS PHI 5000 VersaProbe ; prod. ULVAC/ Physical Electronics – Japonia/USA wyposażony w:

- monochromatyczne źródło XPS (Al)

- klasyczne działo XPS wyposażone w podwójną anodę Mg/Zr

- spektrometr elektronów Augera (AES)

- mikroskop SEM

- działo C60

2. mikroskop tunelowy AFM/STM prod. RHK, USA.

3. komora preparacyjna wyposażona dodatkowo w:

- układy do nanoszenia cienkich warstw metali lub półprzewodników,

- spektrometr elektronów Augera (AES),

- dyfraktometr niskoenergetycznych elektronów (LEED),

- układ do termoprogramowanej desorpcji (TPD) z kwadrupolowym spektrometrem masowym (QSM),

-źródło plazmy azotowej.

4. reaktor wysokociśnieniowy,

5. komora FTIR
Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Dyfraktometr rentgenowski TUR M 62 Carl Zeiss AG bd. Promieniowanie rentgenowskie Cu Kα, zakres pomiarowy 2-80 °(2θ) Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów
Dyfraktometr rentgenowski bd. Aparat wyposażony w układ Molecular Dynamics Model 375 oraz detektor z matrycą CCD Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów
Dyfraktometr rentgenowski URD-6 /IRYS-M bd. Napięcie na lampie – 40 kV; natężenie prądu anodowego – 30 mA; filtracja 1 mmAl Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Gnieźnie, Instytut Ochrony Środowiska
Szerokokątowy dyfraktometr rentgenowski Seifert URD-6 Seifert FPM 1998 Pracuje w geometrii Bragg-Brentan. Składa się z następujących podzespołów: 1. goniometr typu URD-6 Seifert Freiberger Präzisionsmechanik z układem optycznym i licznikiem scyntylacyjnym; 2. wysoko-stabilny generator wysokiego napięcia ID 3003 firmy Seifert; 3. źródło promieniowania rentgenowskiego w postaci lampy rentgenowskiej z miedzianą anodą o mocy 2 kW; 4. układ chłodzenia wodnego KUMA Diffraction KMW 3000 C; 5. specjalna przystawka umożliwiająca badanie cienkich warstw (grazing incidence X-ray diffraction). Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych
Dyfraktometry SWAXS i SAXS Mbraun/Mbraun-Hecus bd. Dyfraktometry SWAXS (Small and Wide Angle X-ray Scattering system) i SAXS (Small Angle X-ray Scattering system) współtworzą wspólne stanowisko badawcze składające się z: dwóch zespolonych kamer Kratky’ego wyposażonych w systemy optyczne SWAXS i SAXS, generatora wysokiego napięcia PW1830 (Philips), lampy rentgenowskiej o mocy 2 kW, układu chłodzenia wodnego KMW3000B, układu próżniowego , dwóch oddzielnych układów zasilania liczników natężenia promieniowania i dwóch oddzielnych układów komputerowych sterowania i rejestracji danych pomiarowych. Dyfraktometry wyposażone są w czułe liczniki, semi-transparentne i sterowane elektroniczne przesłony wiązki pierwotnej i specjalistyczne urządzenie do pomiaru natężenia wiązki pierwotnej metodą ruchomej szczeliny (tzw. moving slit). Dyfraktometr SWAXS wyposażony jest w stolik do badań w zakresie od 20 do 270÷300 °C i własnej konstrukcji układ do pomiaru temperatury bezpośrednio w uchwycie próbki Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych
Dyfraktometr rentgenowski Discover D8, DaVinci Bruker 2012 Dyfraktometr z goniometrem pionowym w konfiguracji theta/theta, optyka do badań w geometrii transmisyjnej i odbiciowej, zestaw szczelin, kolimatorów oraz uchwytów do badań również w zakresie SAXS oraz mikrodyfrakcji, szybki detektor liniowy i powierzchniowy, komora temperaturowa od -100 °C do +300 °C Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk
Spektroskop korelacji fotonów Zeta-Master 4 Malvern bd. Wyposażony w laser He-Ne o mocy 5 mW Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Detektor ładunku cząstek PCD 03 µMütek 1999 Pomiar potencjału cząstek w zawiesinach wodnych; automatyczna stacja miareczkowa Instytut Biopolimerów i Włókien Chemicznych (IBWCh)
Microlab 350 Thermo Electron 2004 Spektrometr AES opcjonalnie wykorzystywany jako spektrometr XPS: źródło emisji elektronów Schottky'ego, analizator sferyczny, działo XPS wyposażone w podwójną anodę Al/Mg, działo jonowe argonowe, mikroskop SEM Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Spektrometr fotoelektronów Escalab 210 VG Scientific 1990 Wyposażony w źródło promieni rtg (niemonochromatyczne) z anodą Mg/Al i podgrzewany nośnik do próbek oraz działo argonowe AG21 z zimną katodą. Dodatkowo komora analityczna wyposażona w analizator gazów resztkowych (RGA 200) oraz komora preparacyjna z linią gazową (H2, CO, N2O, NO, D2, CO2, Ar) Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Mikroskop SEM Nova Nano SEM 450 FEI 2012

Źródło emisji elektronów Schottky'ego; energia wiązki 50eV-30keV; detektor wysokorozdzielczy SE pracujący w trybie immersyjnym (TLD) oraz detektor standardowy ETD. Mikroskop opcjonalnie może pracować w trybie STEM, dodatkowo mikroskop wyposażony jest w urządzenie do czyszczenia powierzchni plazmą, pułapką kontaminacyjną, chłodzoną ciekłym azotem oraz śluzą do szybkiego wprowadzania próbek; spektrometry EDX, WDX.

Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Aparatura do dynamicznego rozpraszania światła DLS BI-200SM Brookhaven Instruments Co 2007 Precyzyjne pomiary intensywności rozproszonego światła lasera w zakresie kątów 20 – 155 ° i temperatur od 5 °C do 70 °C. Jonowy laser argonowy (Stabilite 2017, Spectra Physics) o długości fali λ = 514.5 nm, mocy do 2W i λ = 488 nm, moc do 1.5 W Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Spektrometr FTIR FTS 40A Bio-Rad 1993 dynamiczne zestrajanie układu, interferometr Michelsona, zakres podczerwieni: 4000-400 cm-1.Wyposażenie: przystawka temperaturowa (od 20 °C do 250 °C); przystawka do wykonywania widm techniką rozproszonego odbicia („Seagull”); dla próbek stałych twardych i trudno rozpuszczalnych, nie dających się rozetrzeć z bromkiem potasu - przystawka ATR z diamentowym kryształem pozwalająca na wykonywanie widm próbek bez przygotowania wstępnego Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Analizator elementarny VARIO EL II Elementar 2004 Całkowicie zautomatyzowany system z podajnikiem do 64 próbek, katalityczne spalanie próbek w temperaturze do 1200 °C, automatycznie optymalizowany czas spalania próbek, detektor przewodności cieplnej, kalibracja wielopunktowa, naważki od 1 do 200 mg, dokładność oznaczeń < 0,1% Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Dynamiczna termiczna analiza właściwości mechanicznych DMA 2980 TA Instruments 1998 Zakres temperaturowy pomiaru: -150 °C do 600 °C; częstotliwość: 0,01 - 200 Hz; szybkość grzania/chłodzenia: 0,1 - 50/0,1 - 10 deg./min.;Badania właściwości lepko-sprężystych materiałów, takich jak sztywność, moduł zachowawczy oraz moduł stratności, lepkość, właściwości tłumiące, pierwszo- i drugorzędowe przejścia temperaturowe (m.in. temperatura zeszklenia). Badanie kinetyki sieciowania oraz zjawiska żelowania i witryfikacji rodzaje próbek: znormalizowane prostopadłościenne i sześcienne kształtki, folie, żele, pasty, pianki; atmosfera: otoczenia lub gaz obojętny. Wymienna geometria pomiarowa umożliwia prowadzenie pomiarów w trybie zginania, rozciągania, ściskania oraz ścinanie w funkcji temperatury, częstotliwości czy też naprężeń lub odkształcenia. Zastosowanie modelowania TTS pozwala na wyznaczenie długookresowych właściwości badanych materiałów przy częstotliwościach znacznie przewyższających zakres pomiarowy aparatu. Badania według norm dla tworzyw polimerowych. Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Różnicowy kalorymetr skaningowy DSC 2010 TA Instruments 2001 Pomiary w zakresie temperatur od -170 °C do 550 °C w atmosferze powietrza lub gazu obojętnego Badania według norm dla tworzyw polimerowych Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN