BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Aparaty do analizy polimerów


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Microlab 350 Thermo Electron 2004 Spektrometr AES opcjonalnie wykorzystywany jako spektrometr XPS: źródło emisji elektronów Schottky'ego, analizator sferyczny, działo XPS wyposażone w podwójną anodę Al/Mg, działo jonowe argonowe, mikroskop SEM Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Spektrometr fotoelektronów Escalab 210 VG Scientific 1990 Wyposażony w źródło promieni rtg (niemonochromatyczne) z anodą Mg/Al i podgrzewany nośnik do próbek oraz działo argonowe AG21 z zimną katodą. Dodatkowo komora analityczna wyposażona w analizator gazów resztkowych (RGA 200) oraz komora preparacyjna z linią gazową (H2, CO, N2O, NO, D2, CO2, Ar) Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Aparatura do dynamicznego rozpraszania światła DLS BI-200SM Brookhaven Instruments Co 2007 Precyzyjne pomiary intensywności rozproszonego światła lasera w zakresie kątów 20 – 155 ° i temperatur od 5 °C do 70 °C. Jonowy laser argonowy (Stabilite 2017, Spectra Physics) o długości fali λ = 514.5 nm, mocy do 2W i λ = 488 nm, moc do 1.5 W Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Zetasizer Nano ZS Malvern 2012

Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Goniometr BI-200 Brookhaven 2005 Wyposażony w laser He-Ne (λ=632,8 nm) o mocy 35 mW. Dzięki termostatowanej celce pomiary mogą być wykonywane w zakresie temperatur 15 - 80 °C. Autokorelator PCI BI-9000AT z 2005 r. Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Analizator wielkości cząstek Mastersizer 2000 Malvern 2008 Dwie wiązki promieniowania laserowego (laser czerwony λ=633 nm, laser niebieski λ=466 nm) Wyposażony w: przystawkę dyspergującą na mokro (Hydro MU) z systemem ultradźwięków do usuwania pęcherzyków powietrza z układu lub dyspergowania aglomeratów w badanej próbie, przystawkę do pomiaru na sucho (Scirroco 2000) Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Wydział Nauk o Żywności i Rybactwa, Centrum Bioimmobilizacji i Innowacyjnych Materiałów Opakowaniowych
Goniometr Phoenix mini Surface Electro Optics 2007 Zakres długości ogniskowania: do 12 mm ± 3 %, zakres pomiarowy kąta zwilżania: 0 –180°, dokładność pomiaru kąta zwilżania ± 0,1°. Goniometr sterowany jest programem Image XP 5.6 Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Wydział Nauk o Żywności i Rybactwa, Centrum Bioimmobilizacji i Innowacyjnych Materiałów Opakowaniowych
Aparat do pomiaru wielkości cząstek ZetaSizer bd. Pomiary w roztworze / dyspersjach wodnych i niewodnych metodą DLS (dynamicznego rozpraszania światła); zakres wielkości mierzonych cząstek 1–6000 nm; pomiar potencjału Zeta dyspersji i koloidów (opcjonalnie możliwość podłączenia autotitratora) Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny, Katedra Chemii i Technologii Polimerów
Dyfraktometr rentgenowski TUR M 62 Carl Zeiss AG bd. Promieniowanie rentgenowskie Cu Kα, zakres pomiarowy 2-80 °(2θ) Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów
Dyfraktometr rentgenowski bd. Aparat wyposażony w układ Molecular Dynamics Model 375 oraz detektor z matrycą CCD Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów
Dyfraktometr rentgenowski URD-6 /IRYS-M bd. Napięcie na lampie – 40 kV; natężenie prądu anodowego – 30 mA; filtracja 1 mmAl Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Gnieźnie, Instytut Ochrony Środowiska
Szerokokątowy dyfraktometr rentgenowski Seifert URD-6 Seifert FPM 1998 Pracuje w geometrii Bragg-Brentan. Składa się z następujących podzespołów: 1. goniometr typu URD-6 Seifert Freiberger Präzisionsmechanik z układem optycznym i licznikiem scyntylacyjnym; 2. wysoko-stabilny generator wysokiego napięcia ID 3003 firmy Seifert; 3. źródło promieniowania rentgenowskiego w postaci lampy rentgenowskiej z miedzianą anodą o mocy 2 kW; 4. układ chłodzenia wodnego KUMA Diffraction KMW 3000 C; 5. specjalna przystawka umożliwiająca badanie cienkich warstw (grazing incidence X-ray diffraction). Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych
Dyfraktometry SWAXS i SAXS Mbraun/Mbraun-Hecus bd. Dyfraktometry SWAXS (Small and Wide Angle X-ray Scattering system) i SAXS (Small Angle X-ray Scattering system) współtworzą wspólne stanowisko badawcze składające się z: dwóch zespolonych kamer Kratky’ego wyposażonych w systemy optyczne SWAXS i SAXS, generatora wysokiego napięcia PW1830 (Philips), lampy rentgenowskiej o mocy 2 kW, układu chłodzenia wodnego KMW3000B, układu próżniowego , dwóch oddzielnych układów zasilania liczników natężenia promieniowania i dwóch oddzielnych układów komputerowych sterowania i rejestracji danych pomiarowych. Dyfraktometry wyposażone są w czułe liczniki, semi-transparentne i sterowane elektroniczne przesłony wiązki pierwotnej i specjalistyczne urządzenie do pomiaru natężenia wiązki pierwotnej metodą ruchomej szczeliny (tzw. moving slit). Dyfraktometr SWAXS wyposażony jest w stolik do badań w zakresie od 20 do 270÷300 °C i własnej konstrukcji układ do pomiaru temperatury bezpośrednio w uchwycie próbki Akademia Techniczno-Humanistyczna, Instytut Inżynierii Tekstyliów i Materiałów Polimerowych
Dyfraktometr rentgenowski Discover D8, DaVinci Bruker 2012 Dyfraktometr z goniometrem pionowym w konfiguracji theta/theta, optyka do badań w geometrii transmisyjnej i odbiciowej, zestaw szczelin, kolimatorów oraz uchwytów do badań również w zakresie SAXS oraz mikrodyfrakcji, szybki detektor liniowy i powierzchniowy, komora temperaturowa od -100 °C do +300 °C Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk
Dyfraktometr rentgenowski KUMA KM-4 1996 Czterokołowy dyfraktometr rentgenowski z licznikiem scyntylacyjnym. Wyposażony w przystawkę wysokotemperaturową umożliwiającą pomiary w zakresie 300 - 800 K Uniwersytet Opolski, Wydział Chemii, Zakład Krystalografii
Dyfraktometr rentgenowski Xcalibur Oxford 2001 Czterokołowy dyfraktometr rentgenowski wyposażony w kamerę CCD. Umożliwia znaczne przyspieszenie procesu pomiarowego w porównaniu do tych wykonywanych za pomocą licznika scyntylacyjnego, posiada zwiększoną czułość oraz umożliwia obserwacje obszaru dyfrakcyjnego pomiędzy węzłami sieci odwrotnej. Wyposażony w przystawkę niskotemperaturową umożliwiającą pomiary w zakresie 80 - 370 K Uniwersytet Opolski, Wydział Chemii, Zakład Krystalografii
Dyfraktometr rentgenowski Ultima IV Rigaku bd. Lampa rtg Cu o mocy 2 kW; generator: 20-60 kV, 2-60 mA; goniometr: geometria: θs/θd, promień: 285 mm, zakres kątowy 2θ: –3 ÷162°, minimalna wartość kroku pomiarowego: 0,0001°, szybkość skanowania regulowana w zakresie od 0,02 do 100°/min (2θ); licznik scyntylacyjny NaI(Tl) o liniowej charakterystyce w zakresie 0÷700 000 cps; system optyczny: CBO (optyka promienia krzyżowego), optyka z wiązką ogniskującą (Bragg-Brentano) filtr Ni, geometria wiązki równoległej (Parallel Beam) CBO-f (optyka promienia krzyżowego z układem mikroogniskującym), średnica wiązki 0,4mm. Szczeliny: DS w zakresie 0,01 do 7,00 mm, SS i RS: 0,01 do 20 mm; monochromator uniwersalny przystosowany do pracy z wiązką równoległą i geometrią ogniskującą Bragga-Brentano. Układ pomiarowy SAXS z zestawem szczelin; oprogramowanie XRD do określania jakościowego składu fazowego badanych układów; oprogramowanie SAXS obejmujące korekcję zniekształceń kolimacyjnych, określanie wielkości cząstek i wielkości porów. Baza danych ICDD. Komora temperaturowa: Anton Paar TTK 450, zakres temperaturowy: od 20 °C do 450 °C Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Dyfraktometr proszkowy Mini Flex Rigaku 1998 Anoda Cu, zakres pomiarowy 2q od 2 do 150°, geometria Bragg – Brentano q/2q, licznik scyntylacyjny Instytut Farmaceutyczny, Zakład Analityki Badawczej
Dyfraktometr rentgenowski Empyrean Series 2 Panalytical bd. Wysokorozdzielczy goniometr, wyposażony w układ optyczny PreFIX wiązki padającej i ugiętej w systemie. Do detekcji promieniowania ugiętego służą dwa detektory: proporcjonalny - ksenonowy oraz detektor PIXcel - paskowy krzemowy. Urządzenie jest wyposażone w sześć przystawek montowanych w systemie PreFIX do różnorodnej analizy próbek – litych oraz proszkowych
Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
Dyfraktometr proszkowy małokątowy typu SAXS pracujący z lampą miedziową (promieniowanie o długości 1.54 A) pracujący w geometrii transmisyjnej Bruker AXS Gmbh 2013 Optyka przyrządu (skrzyżowane lustra Goebla) pozwala na otrzymanie wiązki równoległej o średnicy 500 mikronów. Aparat wyposażony jest w detektor dwuwymiarowy, co pozwala na szybką rejestrację sygnałów. Przystawka temperaturowa pozwala na pracę w zakresie od temperatury pokojowej do 350 °C, istnieje możliwość wykonywania pomiarów w osłonie gazów obojętnych. Aparat posiada również przystawkę tensometryczną. Politechnika Rzeszowska, Wydział Chemiczny, Wydziałowe Laboratorium Spektrometrii