BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Aparaty do analizy polimerów


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Aparat do oznaczania temperatury topnienia metodą Koflera Wagner & Munz bd. Zakres temperatury: od 50 ºC do 350 ºC. Mikroskop LEICA VMTG z mikrostolikiem grzewczym (pozwala obserwować próbkę w 10x powiększeniu). Kontrola i stabilizacja temperatury badanych substancji (za pomocą transformatora i termometru TESTO 720) Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Stacja do termicznej analizy różniczkowej 3000 TPR/TPD Quantachrome Instruments bd. Analizy: BET, TPA, TPR, TPD, TPO. Detektor katarometryczny oraz detektor MS Quantachrome Instruments - 200 amu Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Aparat do oznaczania temperatury punktu białego i minimalnej temperatury powstawania filmu MFT 20F Coesfeld Materialtest Gradient Plate Thermostair bd. Zakres temperatury: -20–100 °C Metodyka pomiaru zgodna z PN-90/C-89415 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Urządzenie do utwardzania powłok promieniowaniem UV UVC-5 Dymax Europe bd. Taśma przenośnika porusza się z regulowaną prędkością (od 1,0 do 11,0 m/min). Konstrukcja modułu UV zapewnia regulowaną odległość lampy od taśmy przenośnika. Segment UV zawiera lampę o dużej gęstości mocy (130 W/cm) oraz odpowiednie dla procesu widma UV Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Komora do utwardzania próbek promieniowaniem UV Uvaloc 1000 typ G 2001 Loctite bd. Wybór czasu naświetlania: 0–6 s, 0–60 s, 0–12 min lub wielokrotność; wybór mocy: naświetlanie standardowe – 1000 W, dla substancji o zmniejszonej odporności na temperaturę – 500 W; zakres promieniowania: 200–700 nm (max energia – 420 nm); regulacja dawki promieniowania poprzez zmianę odległości próbki od źródła promieniowania, czasem naświetlania oraz mocą lampy Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Aparat do badania procesu utwardzania SVNC Rapra Technology bd. Zakres temperatury pomiarowej: od temp. pokojowej do 200 °C. Pomiar odbywa się metodą rezonansową, w której elementem pomiarowym jest sonda igłowa wprowadzana w badany materiał umożliwiając w ten sposób monitorowanie zachodzących w trakcie procesu żelowania zmian charakterystyki rezonansowej badanego materiału (zmiana amplitudy oraz częstotliwości drgań sondy igłowej) Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Komora klimatyczna KPK 60; CF 4 Mytron; Sanyo bd.

Zakres temperatury: 10–80 °C, zakres wilgotności : 30–96 % (KPK 60); zakres temperatur: - 40–180 °C, zakres wilgotności: 30–95 % (CF 4)

Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Komora starzeniowa UV 2000 Atlas bd. Źródło światła - osiem lamp fluorescencyjnych UVB 313 lub UVA 340 (opcja UVA 351); jednorodność napromieniowania: 4 % na powierzchni próbki; pomiar temperatury termometrem czarnej płytki (40–93 °C ±10 %); cztery czujniki promieniowania Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Ebuliometry szklane LabMed bd. Zmodyfikowane ebuliometry szklane typu Świętosławskiego Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Termometr cyfrowy F 500 ASL bd. Dwukanałowy termometr platynowy; rozdzielczość 0,001 °C; dokładność pomiaru ± 0,005 °C Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Cyfrowe układy pomiaru i regulacji próżni V-855; Capacitron DM 21 Buchi; Leybold bd. Pomiar ciśnienia absolutnego w zakresie 0–140 kPa. Element pomiarowy – czujnik ceramiczny tensometryczny; rozdzielczość – 0,1 kPa; dokładność – 0,2 kPa Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Automatyczny refraktometr J 57 Rudolph Research Analytical 2011

Temperatura próbki kontrolowana jest za pomocą ogniwa Peltiera

Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Polarymetr AP 100 Atago bd. Pomiar kąta skręcania: od -89,99 do 89,99°; skala cukrowa: -130,00 do +130,00; celka dł. 100 mm Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Aparat do oznaczania powierzchni właściwej i porozymetrii ciał stałych Tristar II 3010 Micrometrics bd.

Pomiar powierzchni właściwej od 0,01m2/g, powierzchni całkowitej od 0,1m2 i pojemności porów od 4x10-6 cm3/g w całym zakresie ciśnienia cząstkowego od 0 do 1.0 P/Po

Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Aparat FP 90 do oznaczania temperatury mięknienia i kroplenia FP 90 Mettler Toledo bd. Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Komora klimatyczna VM 07/100 Heraeus Vötsch 1992 Komora do badań w niskich temperaturach (zakres temp. od -70 °C) Badanie wg PN-86/C-89055 PPHU „Pro-Lab” sp. z o.o.
Aparat do oznaczania napięcia powierzchniowego DSA 100E Kruss bd. Zestaw kalibracyjny do pomiarów kąta zwilżania ( 30°, 60° oraz 120°). Zestaw kalibracyjny do pomiarów napięcia powierzchniowego (20 mN/m i 50 mN/m) Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Połyskomierz Pico Gloss503 Erichsen bd. Połyskomierz trójkątowy 20°/60°/85°; wzorzec wysokiego połysku; oprogramowanie Picogloss Pomiary prowadzone zgodnie z normą PN-EN ISO 2813 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Ultradźwiękowy miernik grubości powłok Posi Tector 200 DeFelsko bd. Miernik wyposażony w sondę, wzorzec grubości, żel, certyfikat sprawdzenia wg NIS, oprogramowanie komputerowe do transferu i obróbki danych Badania wg PN-EN ISO 2808 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Urządzenie do pomiaru grubości powłok metodą nacięć 455 Erichsen bd. Zakres pomiarowy: 200, 500, 1000, 2000 μm Badanie wg AS 1580 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego