BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Aparaty do analizy polimerów


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Przyrząd do oznaczania twardości powłok metodą ołówkową 291 Erichsen bd. 20 ołówków od 9B do 9H Badanie wg z PN-EN 13523-4 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Przyrząd do określania przyczepności powłok Erichsen bd.

Zestaw noży

Badanie wg PN-EN ISO 2409 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Przyrząd do oznaczania odporności powłok na uderzenie 304 Erichsen bd. Wyposażony w: ciężarek DIN/ISO, 1 kg, 20 mm; matryca DIN/ISO, 27 mm; ciężarek dodatkowy DIN/ISO 1 kg; połączenie gwintowane Badanie wg PN-EN ISO 6272-1 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Urządzenie do pomiaru grubości powłok 455 Erichsen bd. Zakres pomiarowy: 200/500/1000/2000 μm Badania wykonywane wg normy AS 1580 Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Urządzenie ścierające Tabera Taber Industries 2007 Badania wykonywane wg PN-EN ISO 5470-1:2001 Instytut Techniki Budowlanej, Laboratorium Materiałów Budowlanych
Aparat do badania zdolności pokrywania rys ITB 2008 Motoreduktor, dwa stoliki do mocowania próbki, śruba napędowa dwugwintowa, enkoder, kamera i centralka sterująca. Urządzenie zapewnia dwie prędkości rozsuwania próbek: 0,05 mm/min dla klas A2 i A3 oraz 0,5 mm/min dla klas A4 i A5 (klasy wg normy PN-EN 1062-7) Badania wykonywane wg PN-EN 1062-7 Instytut Techniki Budowlanej, Laboratorium Materiałów Budowlanych
Inkubator CO2 Heraeus 1993 Zakres temperatur: od 5 °C powyżej temp. otoczenia do 50 °C. Elektroniczna regulacja CO2. Zakres: 0 do 20 % CO2. Dokładność ustawienia: 0,2 % CO2. Szybkość narastania: 1 % CO2/min Badania akredytowane/wykonywane wg: PB LO-006/3/09-1999/PN-EN 1062-6 Instytut Techniki Budowlanej, Laboratorium Materiałów Budowlanych
Komora klimatyczna CTS 2006 Pojemność robocza 350 l, zakres temperatur: (-20 ÷ 180) °C. Zakres wilgotności względnej powietrza (10 ÷ 98) %, prędkość przepływu powietrza (0,2 ÷ 0,4) m/s Badanie akredytowane / badanie wykonywane wg: PB LO-004/4/09-1999/PN-EN ISO 7783, PN-EN 1015-19 Instytut Techniki Budowlanej, Laboratorium Materiałów Budowlanych
Mikroskop Sił Atomowych Metrology series 2000 Molecular imaging, USA 2000 Pracujący w trybach: kontaktowym lub oscylacyjnym; głowica pomiarowa wyposażona w dźwignię krzemową CSC37 (Mikro Mash, Estonia) Politechnika Łódzka, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Mikroskop Sił Atomowych MultiMode/NanoScope 3D Veeco 2007 Celka do badań w cieczy, możliwość pomiarów w temperaturze do 60 oC. Skaner 10 µm. Maksymalny rozmiar próbki: średnica 15 mm lub powierzchnia 10 mm x 10 mm, maksymalna grubość próbki z podłożem: 7 mm, maksymalna chropowatość badanej powierzchni próbki: 3.5 µm Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Mikroskop Sił Atomowych AFM INNOVA Vesco 2010 Rozmiar próbki (XYZ): 45 mm x 45 mm x 18 mm; zmotoryzowany ruch głowicy w osi Z (18 mm), z możliwością przechyłu; skaner Closed Loop: > 90 um (XY), > 7,5 um (Z); skaner Open Loop: > 5 um (XY), > 1,5 um (Z); dopuszczalny szum w osi Z (RMS): < 50 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop Z (RMS): < 200 pm; dopuszczalny szum układu Closed-Loop XY (RMS): < 1.2 nm; zmotoryzowany zoom optyczny 5x; rozdzielczość układu optycznego: < 2um (obiektyw 10 x), 0,75 um (obiektyw 50 x); tryby pracy - standardowe: ContactMode, TappingMode(TM), PhaseImaging(TM), LiftMode(TM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Dark Lift, Lateral Force Microscopy (LFM), Nano-Indentation, Force Modulation Microscopy (FMM), Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM) Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów
Nadprzewodzący spektrometr magnetycznego rezonansu jądrowego wysokiej rozdzielczości Avance II 600 MHz Ultrashield Plus Bruker 2006

Spektrometr wyposażony jest w MAGNES/LOCK SYSTEM, tzn. aktywnie ekranowany magnes nadprzewodzący o indukcji magnetycznej 14,095 Tesla. Oprzyrządowanie umożliwia pracę w niskich temperaturach (-150 °C) z użyciem ciekłego azotu. Badania prowadzone są przy użyciu jednej z 3 głowic: szerokopasmowej sondy 5 mm (pracującej w zakresie od Ag-109 do P-31), przełączanej poczwórnej sondy 5 mm z automatycznym przełączaniem pomiędzy jądrami 13C, 31P, 1H i 15N lub potrójnej sondy kriogenicznej 5 mm z automatycznym przełączaniem pomiędzy jądrami 1H, 13C i 15N. Spektrometr wyposażony jest również w krioplatformę - urządzenie i akcesoria schładzające do operacji z sondą kriogeniczną

Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Nadprzewodzący spektrometr jądrowego rezonansu magnetycznego Unity Inova 300 MHz Varian 1988 Spektrometr o indukcji magnetycznej 7,0463 Tesla umożliwia pomiary w szerokim zakresie częstotliwości (13C, 15N, 23Na, 31P, 39K) Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Spetrometr NMR Ultrashield 400 MHz Bruker 2005 Uniwersytet Opolski, Wydział Chemii, Pracownia Spektroskopii NMR
Spektrometr NMR Gemini 2000 Varian 1995 Umożliwia wykonanie widm: 1H, 13C, 15N, DEPT przy częstości rezonansowej 200MHz Instytut Farmaceutyczny, Zakład Analityki Badawczej
Dwukanałowy spektrometr FT-NMR z magnesem nadprzewodzącym typu ULTRASHIELD 500 PLUS Bruker AvanceII 500 MHz Bruker BioSpin GMBH 2006

Spektrometr o natężeniu pola magnetycznego 11,7440 T, wyposażony w sondę szerokopasmową gradientową (BBI-z, 5 mm) z gradientem w osi z o zakresie pomiarowym 31P/109Ag oraz maksymalnym zakresie temperatury -150 °C ÷ +180 °C, a także w sondę dwujądrową (DUL, 5 mm) o zakresie pomiarowym 1H/13C i maksymalnym zakresie temperatury -150 °C ÷ +180 °C. Spektrometr wyposażony jest także w przystawkę niskotemperaturową do pomiarów rezonansu w roztworach, dla której temperatura minimalna wynosi -150 °C. Wymienione wyżej sondy przeznaczone są do pomiarów magnetycznego rezonansu jądrowego w roztworach.

Politechnika Rzeszowska , Wydział Chemiczny, Wydziałowe Laboratorium Spektrometrii
Mikroskop FTIR Nicolet iN10MX Thermo Scientific 2009

Możliwość wykonywania widm FTIR w zakresie 4000-400 cm-1 próbek w postaci ciekłej bądź stałej, metodami odbiciowymi bądź transmisyjnymi.

Politechnika Rzeszowska, Wydział Chemiczny, Katedra Technologii i Materiałoznawstwa Chemicznego
Mikroskop Alphaphot-2 Nikon 1997 Mikroskop metalograficzny z przystawką EPI (światło odbite), połączony z aparatem Casio QV-2900UX. Katedra Towaroznawstwa Przemysłowego i Chemii Akademii Morskiej w Gdyni