BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Aparaty do analizy polimerów


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Xenotest Beta Heraeus 1994 Sterowanie urządzeniem za pomocą sensora Xenosensiv mierzącego natężenie promieniowania światła na powierzchni próbki w zakresie od 35 do 165 W/m2 dla długości fali z przedziału (300 ÷ 400) nm. Badania akredytowane/wykonywane wg: PB LT-049/1/03-2001; PN ISO 105-B02; PN-EN ISO 4892-2 Instytut Techniki Budowlanej, Laboratorium Materiałów Budowlanych
Komora klimatyczna bd.

Komora testowa z kontrolą temperatury, wilgotności, Całkowity zakres nastawy temperatury: -5 °C do 100 °C. Zakres nastawiania wilgotności: 10% ~ 95%RH lub 20% ~ 95%RH. Zaawansowany system programowania umożliwiający konstruowanie i przeprowadzanie rozbudowanych, wieloetapowych eksperymentów

Politechnika Łódzka, Wydział Chemiczny, Instytut Technologii Polimerów i Barwników
Komora solna AKT-500 bd.
Badania wg norm: PN-EN ISO 9227:2012; PN-EN 3-7+A1:2008; PN-EN 1866-1:2010 Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej im. Józefa Tuliszkowskiego - Państwowy Instytut Badawczy
Komora klimatyczna LM10 Uni-Mors 2013

Badania w zakresie: temp. od -50 do 80 °C, wilgotność 10-95 %


Badania wg norm: PN-EN 1866-1:2010; PN-EN 3-7+A1:2008; PN-EN 1568 cz. 1-4 Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej im. Józefa Tuliszkowskiego - Państwowy Instytut Badawczy
Komora klimatyczna HC 4057 Heraeus bd.
Badania wg norm: PN-EN 1866-1:2010; PN-EN 3-7+A1:2008; PN-EN 1568 cz. 1-4 Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej im. Józefa Tuliszkowskiego - Państwowy Instytut Badawczy
Komora klimatyczna ARS-0220 ESPEC bd. Komora klimatyczna o pojemności 220 l i zakresie regulacji temperatury od -75 do +180 °C oraz wilgotności od 10 do 98 % RH (zakres temperatury dla pracy z wilgotnością 10–95 °C). Centrum Zaawansowanych Technologii Uniwersytetu Adama Mickiewicza
Komora do testów starzeniowych z nadeszczaniem i zamkniętym obiegiem wody demimeralizowanej ATLAS UVtest ATLAS bd. Możliwość programowania cykli badawczych: cykl jasny z kontrolowanym natężeniem promieniowania w zakresie UV, cykl ciemny z kondensacją pary wodnej na powierzchni próbek oraz cykl zadeszczania próbek. Urządzenie wyposażane w 8 fluorescencyjnych lamp UV (300-400 nm) o mocy 40 W każda. Centrum Zaawansowanych Technologii Uniwersytetu Adama Mickiewicza
Komora solna SC 450 Weiss bd.
DIN EN ISO 6270-2 (DIN 50017), DIN 50014, DIN EN ISO 9227 Centrum Zaawansowanych Technologii Uniwersytetu Adama Mickiewicza
Skaningowy mikroskop elektronowy JSM-6490 LV Jeol bd. Wyposażony w mikroanalizator EDS i lampę rentgenowską Badania akredytowane struktury i morfologii powierzchni Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. I. Mościckiego
Skaningowy mikroskop elektronowy TM 3000 Hitachi 2010 Stolikowy skaningowy mikroskop elektronowy SEM typu „table-top”, napięcie wiązki 5,15 keV, powiększenia do 30 000x, rozdzielczość ok. 30 nm Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Zakład Materiałów Ceramicznych i Polimerowych
Skaningowy mikroskop elektronowy z mikroanalizerem Thermo Fisher SU 70 Hitachi bd. Rozdzielczość maks. 1 nm, analiza EDS, WDS, EBSD, analiza struktury materiałów polimerowych nieprzewodzących (po napyleniu) Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny, Instytut Polimerów
Skaningowy mikroskop elektronowy Quanta 200 FEI Company 2004 Rozdzielczość 3,5 nm. Tryb pracy: wysoka i niska próżnia oraz ESEM. Dodatkowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych Instytut Biopolimerów i Włókien Chemicznych (IBWCh)
Skaningowy mikroskop elektronowy SU 8010 Hitachi 2011 Przystawka EDX, możliwość obrazowania przy użyciu detektora BSE i EDX Instytut Inżynierii Materiałów Polimerowych i Barwników, Oddział Przetwórstwa Tworzyw Polimerowych
Wielokomorowy system analityczny przeznaczony do badania powierzchni ciał stałych PREVAC 2008

1. skanujący spektrometr fotoelektronów XPS PHI 5000 VersaProbe ; prod. ULVAC/ Physical Electronics – Japonia/USA wyposażony w:

- monochromatyczne źródło XPS (Al)

- klasyczne działo XPS wyposażone w podwójną anodę Mg/Zr

- spektrometr elektronów Augera (AES)

- mikroskop SEM

- działo C60

2. mikroskop tunelowy AFM/STM prod. RHK, USA.

3. komora preparacyjna wyposażona dodatkowo w:

- układy do nanoszenia cienkich warstw metali lub półprzewodników,

- spektrometr elektronów Augera (AES),

- dyfraktometr niskoenergetycznych elektronów (LEED),

- układ do termoprogramowanej desorpcji (TPD) z kwadrupolowym spektrometrem masowym (QSM),

-źródło plazmy azotowej.

4. reaktor wysokociśnieniowy,

5. komora FTIR
Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Mikroskop SEM Nova Nano SEM 450 FEI 2012

Źródło emisji elektronów Schottky'ego; energia wiązki 50eV-30keV; detektor wysokorozdzielczy SE pracujący w trybie immersyjnym (TLD) oraz detektor standardowy ETD. Mikroskop opcjonalnie może pracować w trybie STEM, dodatkowo mikroskop wyposażony jest w urządzenie do czyszczenia powierzchni plazmą, pułapką kontaminacyjną, chłodzoną ciekłym azotem oraz śluzą do szybkiego wprowadzania próbek; spektrometry EDX, WDX.

Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Wysokorozdzielczy środowiskowy skaningowy mikroskop elektronowy Quanta 250 FEG FEI Company 2009 Wyposażony w działo elektronowe z emisją polową (emiter Schottky'ego), z możliwością pracy w trzech trybach próżniowych: wysoka próżnia (HiVac), niska próżnia (LoVac), rozszerzona niska próżnia (ESEM). Mikroskop wyposażony jest w: detektory elektronowe typu SE i BSE: ETD, LFD, GAD, GSED, VCD, BSED i kamerę CCD; detektor elektronów przechodzących WetSTEM; stolik chłodzący Peltiera; rentgenowski spektrometr EDS EDAX Genesis XM 4i Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Transmisyjny mikroskop elektronowy TECNAI F20 TWIN FEI Company 2010 Działo elektronowe z emisją polową (emiter Schottky'ego) umożliwiające pracę w zakresie napięć przyspieszających 20 ‑ 200 kV w trybach: TEM, HR-TEM, STEM (z detektorem obrazowym HAADF), tomografii elektronowej oraz dyfrakcji elektronowej. Wszystkie podzespoły mikroskopu są sterowane elektronicznie. Uchwyty do preparatów: jednopochyłowy, dwupochyłowy z niskim poziomem tła, do tomografii o rozszerzonym polu widzenia. Kamera CCD Eagle 4k HS 200 kV. Dodatkowo mikroskop wyposażony jest w przystawkę do pracy w technice Cryo, w skład której wchodzą: krioholdery Gatan 70 z systemem przenoszenia preparatów zamrożonych do kolumny mikroskopu, stacja Gatan 655 do suchego odpompowywania krioholderów oraz urządzenie Vitrobot Mk4 do witryfikacji preparatów mikroskopowych FEI Company. Wyposażenie do preparatyki: ultramikrotom Leica EM UC7 z komorą mrożeniową, urządzenie do czyszczenia plazmowego Fischione Model 1020 Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN
Skaningowy mikroskop elektronowy JSM-6010LA Jeol 2012

Zakres pracy: w warunkach wysoko-próżniowych (HV) z preparatami przewodzącymi prąd elektryczny; w warunkach nisko-próżniowych z dowolnymi preparatami z detektorem elektronów wstecznie rozproszonych (BSED). Parametry mikroskopu: zdolność rozdzielcza (HV) – 4.0 nm (20 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV); napięcie przyśpieszające: od 0,5 do 20 kV; powiększenie od 5 do 300 000 x; niska próżnia: 10 -100 Pa; systemy EDS, mapping pierwiastkowy

Politechnika Krakowska, Katedra Chemii I Technologii Polimerów
Skaningowy tunelowy mikroskop elektronowy (STM oraz AFM) Multi Mode 8 Bruker 2012 Wyposażony w różnego rodzaju sondy pomiarowe Politechnika Rzeszowska, Wydział Chemiczny, Laboratorium Przetwórstwa i Badania Tworzyw Polimerowych
Mikroskop Elektronowy Transmisyjny Tesla BS 500 Tesla 1984 Napięcie przyspieszające 80 kV; możliwość uzyskiwania dyfrakcji elektronowych i powiększeń do 300 000 x Politechnika Gdańska, Wydział Chemiczny, Katedra Technologii Polimerów