BAZA APARATURY DO ANALIZY I PRZETWÓRSTWA POLIMERÓW
Drukuj


Aparaty do analizy polimerów


Aparat Typ/model Producent Rok produkcji Charakterystyka techniczna, wyposażenie dodatkowe Badania akredytowane, badania wykonywane wg norm Nazwa instytucji
Układ do pomiaru ścieralności katalizatorów i adsorbentów w złożu fluidalnym Vinci Technologies 2011 Układ pomiarowy (50 g próbki) pracujący w warunkach temperatury i ciśnienia otoczenia w strumieniu powietrza przez 5 h. Oznaczenie współczynnika ścieralności na podstawie masy próbki rozdrobnionej w wyniku analizy Badanie wg ASTM D-5757-95 Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Kalorymetr automatyczny AC-500 WC; AC-350 LECO 2007 Metoda kalorymetryczna. Zakres pomiarowy: dla próbki 1 g od 14 000 KJ/kg do 35 000 KJ/kg Badanie akredytowane/wg: 1) Procedur IChPW: Q/LP/03/A:2011; Q/LP/12/A:2011; Q/LP/23/A:2011; Q/LP/42/A:2011; Q/LP/43/A:2011 2) Norm: DIN 51900-1:2004; DIN 51900-2:2003; PN-EN Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Kalorymetr automatyczny C-5000 IKA-Werke 2012 Metoda kalorymetryczna. Spalanie próbek do oznaczania zawartości chloru. Zakres pomiarowy do 40 000 J Badanie akredytowane/wg: 1) Procedur IChPW: Q/LP/03/A:2011; Q/LP/12/A:2011; Q/LP/23/A:2011; Q/LP/42/A:2011; Q/LP/43/A:2011 2) Norm: DIN 51900-1:2004; DIN 51900-2:2003; PN-EN Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Analizator SC SC-632 Leco 2009 Metoda wysokotemperaturowego spalania z detekcją w podczerwieni. Analizator wymaga kalibracji. Zakres pomiarowy: siarka 0,001– 20 %; węgiel 0,005–100% Badanie akredytowane wg:PN-G-04584:2001; PN-G-77/G-04514/08; ISO 19579:2006; DIN 51724-1; PN-EN 15289:2011 Procedur IChPW: Q/LP/08/A:2011; Q/LP/10/A:2011; Q/LP/21/A:2011; Q/LP/36/A:2011; Q/LP/49/A:2011; Q/LP/50/A:2011 Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Analizator CHN TruSpec Leco 2005 Metoda wysokotemperaturowego spalania: z detekcją w podczerwieni dla CH; z detekcją przewodnictwa cieplnego dla N. Analizator wymaga kalibracji. Zakres pomiarowy: węgiel 0,005–100 %; wodór 0,02–50 %; azot – 0,008–100 % Badanie akredytowane/ wg: PN-G-04571:1998; PN-EN 15104:2011. Procedur IChPW: Q/LP/09/A:2011; Q/LP/16/A:2011; Q/LP/22/A:2011 Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Analizator CHNS 628 Leco 2012 Metoda wysokotemperaturowego spalania: z detekcją w podczerwieni dla CHS; z detekcją przewodnictwa cieplnego dla N.Analizator wymaga kalibracji. Zakres pomiarowy (max. masa badanej próbki 250 mg) węgiel 0,02–175 mg; wodór 0,1–12 mg; azot 0,04–50 mg; siarka 0,01–20 mg - przy max. masie próbki 350 mg Badanie akredytowane/ wg: PN-G-04571:1998; PN-EN 15104:2011; PN-G-04584:2001; PN-G-77/G-04514/08. Procedur IChPW: Q/LP/09/A:2011; Q/LP/16/A:2011; Q/LP/22/A:2011; Q/LP/08/A:2011; Q/LP/10/A:2011; Q/LP/21/A:2011 Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Analizator TGA 501; 701 Leco 1992 Równoczesna analiza 19 pojedynczych próbek. Oznaczanie zawartości: wilgoci w atmosferze azotu, popiołu w atmosferze tlenu. Zakres analityczny: 0‑100 % Badanie akredytowane/ wg: PN-G-04560:1998; DIN 51718:2011. Procedury IChPW: Q/LP/27/A:2011 Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Analizator rtęci MA-2000 Nippon Instrument Corporation 2007 Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Spektrometr emisyjny ICP-OES iCAP 6500 Thermo Fisher Scientific 2011 Spektrometria emisyjna optyczna z plazmą argonową indukcyjnie sprzężoną. Spektrometr z optyką typu Echelle i detektorem półprzewodnikowym. Palnik poziomy z osiową i promieniową obserwacją plazmy.Zakres pomiarowy: od 50 ppb do 100 %. Niezbędna jest kalibracja spektrometru i mineralizacja próbek do badań.Wyposażenie dodatkowe: dwa mineralizatory mikrofalowe ETHOS, ONE; 2011 i 2012 r. (prod. Milestone) Badanie akredytowane/ wg procedur IChPW: Q/LP/55/A:2011; Q/LP/56/A:2011; Q/LP/57/A:2011; Q/LP/58/A:2011 Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Mikroskop polaryzacyjny Axio Imager carl Zeiss 2008 Wyposażenie dodatkowe: stolik wysokotemperaturowy firmy Lincam; urządzenie do inkludowania próżniowego CitoVac, typ 05926119, Struers; fotometr PMT Badania akredytowane/ wg: PN-ISO 7404-3:2001; PN-ISO 7404-5:2002 Instytut Chemicznej Przeróbki Węgla
Reometr RV DV III+ Brookfield 2000 Wzorcowany aparat dla wrzeciona SC4-21 do pomiaru lepkości w zakresie 20÷500 000 mPas. Badania w funkcji prędkości ścinania, czasu i temperatury Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych
Skaningowy kalorymetr różnicowy DSC821 Mettler Toledo bd. Zakres temperatury: od -50 oC do 450 oC; stała czasowa sensora 1.8 s; szybkość grzania: od 1 K/min do 300 K/min; szybkość chłodzenia: od 1 K/min do 50 K/min Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Skaningowy kalorymetr różnicowy DSC1 Mettler Toledo bd. Zakres temperatury: od -75 oC do 450 oC; rozdzielczość kalorymetryczna: 0,01 µW; precyzja pomiaru temperatury: ±0,02 K; rozdzielczość temperaturowa pieca: ±0,00006 K; rozdzielczość sensora: 0,01µW; prędkość grzania: od 0,02 K do 300 K/min; szybkość chłodzenia: od 0,02 K do 50 K/min. Modulowane analizy DSC (MDSC), z sinusoidalną modulacją prędkości ogrzewania; autosampler; przystawka fotokolorymetryczna (zestaw UV z lampą o zakresie spektralnym emitowanego światła od 240 do 400 nm oraz filtr o dł. 280-400 nm); wyzwalanie lampy UV z poziomu oprogramowania kalorymetru DSC; regulowana intensywność promieniowania; miernik intensywności promieniowania UV (kalibracja dla 365 nm, zakres 0¸19990 mW/cm2) Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Wysokociśnieniowy skaningowy kalorymetr różnicowy HP DSC1 Mettler Toledo bd. Zakres temperatury: od 22 oC do 700 oC; zakres ciśnienia: 0 Pa do 10 MPa; powtarzalność temperatury: ±0,1 K; prędkość grzania: od 0,1 do 50 K/min; czułość sensora: 0,01µW Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Termograwimetr sprzężony z FTIR TGA/DSC1 Mettler Toledo bd. Zakres temperatury: od RT do 1100 oC; dokładność temperaturowa: ±0,2 K; rozdzielczość temperaturowa pieca: 0,001 K; prędkość grzania: od RT do 1100 oC/10 min; szybkość chłodzenia: od 1100 oC do 100 oC/≤11 min; 3 wloty gazów: ochronnych, płuczących i reakcyjnych; ułożenie pieca: poziome; waga - zakres ważenia: do 1g; dokładność odczytu: min. 1µg; ułożenie ramienia wagi: poziome; autosampler; sensor SDTA o czułości 0,5 mW; spektrofotometr FTIR sprzężony z aparatem TGA poprzez interfejs; zakres spektralny spektrofotometru: 7800 – 350 cm-1; rozdzielczość optyczna: 0,4 cm-1; szumy mniejsze niż 1,3x10-5 Abs ("peak-to-peak", pomiar 1 minuta przy rozdzielczości 4 cm-1, detektor DLaTGS); ceramiczne trwałe źródło promieniowania; dzielnik wiązki Ge/KBr; detektor DLaTGS; maksymalna szybkość skanowania: 40 skanów/s przy rozdzielczości 16 cm-1; precyzja długości fali: 0,01 cm-1; moduł do pomiarów transmisyjnych; przystawka ATR; przystawka rozproszeniowa Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Aparat do Dynamicznej Analizy Termomechanicznej DMA/SDTA861 Mettler Toledo bd. Temperatura: zakres:-150 ˚C … 500 oC, rozdzielczość: 0,003 K, dokładność: 0,5 K; siła: zakres od 0,001 do 12 N; przemieszczenie: zakres: ± 1,6 mm; rozdzielczość: 0,6 nm; czułość: 5 nm; sztywność : zakres: 10 … 108 N/m; dokładność 0,2 %; tan delta zakres: 0,0001 … 100; rozdzielczość: 0,00001; czułość: 0,001. Dostępne tryby pomiarowe do pomiaru: moduły ścinania w zakresie: 10 … 107 N/m; moduł rozciągania z zestawem uchwytów od 6 do 19 mm Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Mikroskop Bx51 Olympus bd. Baza mikroskopu na światło przechodzące z wbudowanymi w podstawę trzema filtrami podstawowymi i jednym dodatkowym, z możliwością rozbudowy o przystawkę na światło odbite; obiektywy: wszystkie obiektywy w systemie UIS o powiększeniach 10x, 20x, 40x, 50x. Tubus binokularny, pole widzenie FN 22; uniwersalny kondensor achromatyczny/aplanatyczny współpracujący z obiektywami o powiększeniach od 1,25x do 100x we wszystkich technikach obserwacyjnych; oświetlenie: 100 W lampa halogenowa do światła przechodzącego i odbitego; stolik preparatowy pokryty powłoką ceramiczną z niezależnym przesuwem preparatów w osiach X , Y, ergonomicznym pokrętłem przesuwu z zastosowaniem mechanizmu rolkowego; kamera ColorView Illu; kamera kolorowa CCD zintegrowana z oprogramowaniem analySIS i Cell; stolik grzejno-chłodzący Linkam model THMS600, zakres temperatur: od -196 °C do 600 °C Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Plastometr Mflow Zwick bd. Zakres obciążeń: od 0,325 kg do 21,6 kg; zakres temperatury: od 50 ºC do 450ºC; obciążenia badawcze: 0,325 kg i 3,16 kg; rozdzielczość wskazań temperatury: 0,1 ºC; granica błędu pomiaru drogi podczas wyznaczania objętościowego współczynnika płynięcia: ±0,02 mm (ISO 1133), ewentualnie: ±0,4 % od 6,25 mm (ASTM D 1238); rozdzielczość pomiaru drogi podczas wyznaczania objętościowego współczynnika płynięcia: < 0,005 mm; para dysz o średnicy wewnętrznej 2,095 mm, długość 8 mm; kanał i tłok badawczy do tworzyw zawierających fluor; automatyczna obcinarka; czujnik ruchu dla pomiaru drogi tłoka (badania wg ISO-1133 i ASTM D 1238) umożliwia precyzyjny odczyt czasu i drogi dla dokładnych wyników MFR i MVR Badanie wg ISO 1133; ASTM D 1328; ASTM D 3364; NF T51-038; JIS K 7210 Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Dyfraktometr rentgenowski Ultima IV Rigaku bd. Lampa rtg Cu o mocy 2 kW; generator: 20-60 kV, 2-60 mA; goniometr: geometria: θs/θd, promień: 285 mm, zakres kątowy 2θ: –3 ÷162°, minimalna wartość kroku pomiarowego: 0,0001°, szybkość skanowania regulowana w zakresie od 0,02 do 100°/min (2θ); licznik scyntylacyjny NaI(Tl) o liniowej charakterystyce w zakresie 0÷700 000 cps; system optyczny: CBO (optyka promienia krzyżowego), optyka z wiązką ogniskującą (Bragg-Brentano) filtr Ni, geometria wiązki równoległej (Parallel Beam) CBO-f (optyka promienia krzyżowego z układem mikroogniskującym), średnica wiązki 0,4mm. Szczeliny: DS w zakresie 0,01 do 7,00 mm, SS i RS: 0,01 do 20 mm; monochromator uniwersalny przystosowany do pracy z wiązką równoległą i geometrią ogniskującą Bragga-Brentano. Układ pomiarowy SAXS z zestawem szczelin; oprogramowanie XRD do określania jakościowego składu fazowego badanych układów; oprogramowanie SAXS obejmujące korekcję zniekształceń kolimacyjnych, określanie wielkości cząstek i wielkości porów. Baza danych ICDD. Komora temperaturowa: Anton Paar TTK 450, zakres temperaturowy: od 20 °C do 450 °C Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów
Reometr Rheolyst AR 1000N TA Instruments bd. Układ pomiarowy: płytka-stożek, płytka-płytka, współosiowe cylindry; pomiar w zakresie temperatury: od 25 °C do 400 °C; tryb dynamiczny: zakres: 0,0001-100 Hz, dokładność: 0,62 mrad, minimalne dkształcenie 6x10-5; siły normalne: zakres 0,01-50 N, dokładność odczytu: 0,005 N Politechnika Wrocławska, Zakład Inżynierii i Technologii Polimerów